[發(fā)明專利]一種金屬罐的缺陷檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810496537.X | 申請日: | 2018-05-22 |
| 公開(公告)號: | CN108956636A | 公開(公告)日: | 2018-12-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭立新;任衛(wèi)國;張軍 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州微締軟件股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/90 | 分類號: | G01N21/90 |
| 代理公司: | 蘇州睿昊知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32277 | 代理人: | 伍見 |
| 地址: | 215128 江蘇省蘇州市吳中經(jīng)*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圓臺 旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件 發(fā)光元件 轉(zhuǎn)臺 缺陷檢測裝置 檢測組件 內(nèi)部設(shè)置 金屬罐 面光源 工位 小孔 抓手 相機(jī) 工作效率高 采集圖像 從上向下 電磁線圈 依次設(shè)置 周邊設(shè)置 環(huán)形光 外側(cè)壁 檢測 環(huán)繞 鏡頭 | ||
本發(fā)明公開了一種金屬罐的缺陷檢測裝置,包括圓臺,所述圓臺下側(cè)設(shè)置有第一旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件,所述第一旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件帶動所述圓臺旋轉(zhuǎn),所述圓臺環(huán)繞其外側(cè)壁設(shè)置有多個轉(zhuǎn)臺,所述圓臺的內(nèi)部設(shè)置有第二旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件,所述第二旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件帶動所述轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn),每個所述轉(zhuǎn)臺的工作面上設(shè)置有抓手,所述抓手內(nèi)部設(shè)置有電磁線圈,所述圓臺的周邊設(shè)置有檢測工位,所述檢測工位的上側(cè)設(shè)置有檢測組件,所述檢測組件包括從上向下依次設(shè)置的相機(jī)、面光源發(fā)光元件和環(huán)形光發(fā)光元件,所述面光源發(fā)光元件上開設(shè)有小孔,所述相機(jī)的鏡頭設(shè)置在所述小孔內(nèi)。其工作效率高,采集圖像質(zhì)量好,造價低,方便實(shí)用。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及金屬產(chǎn)品視覺檢測領(lǐng)域,具體涉及一種金屬罐的缺陷檢測裝置。
背景技術(shù)
在金屬罐或者一些瓶狀物體的生產(chǎn)過程中,會產(chǎn)生顛倒罐、內(nèi)外罐、漏印等印刷缺陷。由于缺陷在圓周方向上的位置不確定,為對金屬罐的周邊進(jìn)行缺陷檢測,往往需要多個相機(jī)分別采集金屬管各個視角的圖像,之后進(jìn)行拼接,再使用算法對其特征點(diǎn)進(jìn)行識別,進(jìn)而檢測出產(chǎn)品缺陷,獲得不良品。而這種多相機(jī)檢測,造價及成本高;金屬罐的外側(cè)壁的打光要求也高;由于多相機(jī)所采集的圖像需要拼接后再進(jìn)行識別,其算法的運(yùn)算量也大;且相機(jī)可能未實(shí)現(xiàn)360°覆蓋,可能會出現(xiàn)檢測盲點(diǎn)的情況。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種金屬罐的缺陷檢測裝置,其工作效率高,采集圖像質(zhì)量好,造價低,方便實(shí)用。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種金屬罐的缺陷檢測裝置,包括圓臺,所述圓臺下側(cè)設(shè)置有第一旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件,所述第一旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件帶動所述圓臺旋轉(zhuǎn),所述圓臺環(huán)繞其外側(cè)壁設(shè)置有多個轉(zhuǎn)臺,所述圓臺的內(nèi)部設(shè)置有第二旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件,所述第二旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件帶動所述轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn),每個所述轉(zhuǎn)臺的工作面上設(shè)置有抓手,所述抓手內(nèi)部設(shè)置有電磁線圈,所述圓臺的周邊設(shè)置有檢測工位,所述檢測工位的上側(cè)設(shè)置有檢測組件,所述檢測組件包括從上向下依次設(shè)置的相機(jī)、面光源發(fā)光元件和環(huán)形光發(fā)光元件,所述面光源發(fā)光元件上開設(shè)有小孔,所述相機(jī)的鏡頭設(shè)置在所述小孔內(nèi)。
作為優(yōu)選的,所述轉(zhuǎn)臺均勻分布在所述圓臺的外側(cè)壁上。
作為優(yōu)選的,所述圓臺的周邊設(shè)置有裝料工位,所述裝料工位一側(cè)設(shè)置有第一傳送帶,所述第一傳送帶將金屬罐傳送至裝料工位。
作為優(yōu)選的,所述電磁線圈的磁極方向朝向所述第一傳送帶的出口處設(shè)置。
作為優(yōu)選的,所述圓臺的周邊設(shè)置有卸料工位,所述卸料工位一側(cè)設(shè)置有第二傳送帶,所述抓手將金屬罐轉(zhuǎn)載至第二傳送帶。
作為優(yōu)選的,所述圓臺周邊設(shè)置有剔除工位,所述剔除工位的下側(cè)設(shè)置有不良品收集倉。
作為優(yōu)選的,所述第一旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件和所述第二旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部件為電機(jī)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:
1、本發(fā)明使用單個相機(jī)即可實(shí)現(xiàn)金屬罐全方位檢測,工作效率高。
2、本發(fā)明使用環(huán)形光源和面光源對待檢物體進(jìn)行打光,打光效果好,便于圖像采集。
3、本發(fā)明在面光源發(fā)元光件上開設(shè)小孔,相機(jī)的鏡頭設(shè)置在小孔內(nèi),這種光源與照相的形式采集的圖像更清晰。
4、本發(fā)明抓手中設(shè)置電磁線圈,通過改變電磁線圈中電流的通斷來實(shí)現(xiàn)夾取與釋放的操作,方法簡單,方便實(shí)用。
5、本發(fā)明造價及成本低,節(jié)約成本。
附圖說明
為了更清楚的說明本發(fā)明實(shí)施例技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還能夠根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





