[發(fā)明專利]基于高光譜圖像的空時聯(lián)合異常檢測方法和電子設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810493266.2 | 申請日: | 2018-05-22 |
| 公開(公告)號: | CN108765460B | 公開(公告)日: | 2021-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王津申;李陽;劉翔;謝啟明;鮮寧;龍華保 | 申請(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué);上海航天控制技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G06T7/246 | 分類號: | G06T7/246;G06T7/194 |
| 代理公司: | 北京易捷勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11613 | 代理人: | 齊勝杰 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 光譜 圖像 聯(lián)合 異常 檢測 方法 電子設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開了一種基于高光譜圖像的空時聯(lián)合異常檢測方法和電子設(shè)備,方法包括:針對高光譜圖像序列,獲取所述高光譜圖像序列中每一幀圖像的空間異常圖;獲取所述高光譜圖像序列中每一幀圖像的時間異常圖;根據(jù)上一幀圖像的聯(lián)合異常圖,獲取當(dāng)前幀的目標(biāo)檢測的軌跡預(yù)測圖;上一幀為與當(dāng)前幀相鄰的幀;根據(jù)所述每一幀的空間異常圖、時間異常圖和軌跡預(yù)測圖,獲取所述高光譜圖像立方體中目標(biāo)的聯(lián)合異常圖。本發(fā)明的方法應(yīng)用在空中飛機目標(biāo)的檢測場景中具有較低的虛警率和較高的檢測概率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于圖像識別技術(shù),尤其涉及一種基于高光譜圖像的空時聯(lián)合異常檢測方法和電子設(shè)備。
背景技術(shù)
隨著高光譜傳感器的發(fā)展,高光譜圖像已經(jīng)被應(yīng)用到很多經(jīng)典的圖像處理問題之中。相比于單波段傳感器,高光譜傳感器能夠同時采集到圖像的光譜特征信息和空間特征信息。這也是高光譜圖像在圖像處理領(lǐng)域的重要優(yōu)勢。
弱小目標(biāo)是指在圖像中尺寸很小、強度很弱、信噪比很低的感興趣目標(biāo)。弱小目標(biāo)檢測在軍事和民用領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用,吸引了很多研究者的興趣。由于高光譜圖像中存在復(fù)雜背景、噪聲雜波的干擾和長距離傳輸?shù)乃p,感興趣的目標(biāo)的信噪比會非常低。而且,不同目標(biāo)具有不同的信噪比,也會造成目標(biāo)檢測的遺漏或誤判。研究者并不能從單一波段的紅外圖像中獲得準(zhǔn)確可靠的檢測結(jié)果。高光譜圖像含有目標(biāo)的光譜信息,往往可以得到更好的檢測結(jié)果。因此,如何檢測并跟蹤弱小目標(biāo)成為高光譜圖像處理領(lǐng)域中當(dāng)前亟待解決的技術(shù)問題之一。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)中的問題,本發(fā)明提供一種基于高光譜圖像的空時聯(lián)合異常檢測方法和電子設(shè)備,該方法能夠從高光譜圖像序列中檢測出弱小的運動目標(biāo),檢測結(jié)果準(zhǔn)確率高,虛警率低。
第一方面,本發(fā)明提供一種基于高光譜圖像的空時聯(lián)合異常檢測方法,包括:
101、針對高光譜圖像序列,獲取所述高光譜圖像序列中每一幀圖像的空間異常圖;
102、獲取所述高光譜圖像序列中每一幀圖像的時間異常圖;
103、根據(jù)上一幀圖像的目標(biāo)檢測結(jié)果,獲取當(dāng)前幀目標(biāo)檢測的軌跡預(yù)測圖;上一幀為與當(dāng)前幀相鄰的幀,所述目標(biāo)檢測結(jié)果是通過上一幀圖像的空間異常圖、時間異常圖和軌跡預(yù)測圖生成的;
104、根據(jù)所述每一幀的空間異常圖、時間異常圖和軌跡預(yù)測圖,獲取所述高光譜圖像序列中目標(biāo)的聯(lián)合異常圖。
可選地,所述步驟101之前,所述方法還包括:
100、對所述高光譜圖像序列進行降維處理,獲得降維后的高光譜圖像序列;
相應(yīng)地,所述步驟101具體為:
獲取降維后的高光譜圖像序列中每一幀的空間異常圖;
所述步驟102具體為:
獲取降維后的高光譜圖像序列中每一幀的時間異常圖。
可選地,所述步驟101包括:
采用公式S(x,y,t)=(Vt-μt)T·(Φt)-1·(Vt-μt)獲取空間異常圖S(x,y,t);
其中,Vt∈R1×k指PC(x,y,k,t)中的待檢測像素的特征向量,μt∈R1×k指 PC(x,y,k,t)的均值,Φt指PC(x,y,k,t)的自協(xié)方差;PC(x,y,k,t)為降維后的高光譜圖像序列或原始高光譜圖像序列。
可選地,所述步驟102包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京航空航天大學(xué);上海航天控制技術(shù)研究所,未經(jīng)北京航空航天大學(xué);上海航天控制技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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