[發(fā)明專利]非晶硅TFT基板的制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810488941.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108735664A | 公開(公告)日: | 2018-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉廣輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/77 | 分類號(hào): | H01L21/77;H01L21/336 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44265 | 代理人: | 林才桂;程曉 |
| 地址: | 430070 湖北省武漢市*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光阻層 非晶硅TFT 曝光制程 圖案化 基板 制程 透明導(dǎo)電層 光阻圖案 蝕刻制程 灰化 源漏極金屬層 柵極金屬層 非晶硅層 制作工藝 鈍化層 產(chǎn)能 光罩 兩層 制作 優(yōu)化 | ||
1.一種非晶硅TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟S1、提供一襯底基板(10),在所述襯底基板(10)上依次沉積形成非晶硅層(20)、N型摻雜非晶硅層(30)、第一透明導(dǎo)電層(40)及源漏極金屬層(50);
步驟S2、在所述源漏極金屬層(50)上涂布光阻材料并進(jìn)行第一道光罩制程,形成第一光阻層(90),所述第一光阻層(90)具有厚度依次增加的第一光阻圖案(91)、第二光阻圖案(92)及第三光阻圖案(93);
步驟S3、以所述第一光阻層(90)為遮蔽層進(jìn)行第一次蝕刻制程,去除所述非晶硅層(20)、N型摻雜非晶硅層(30)、第一透明導(dǎo)電層(40)及源漏極金屬層(50)上未被第一光阻層(90)覆蓋的部分,對(duì)應(yīng)于所述第一光阻圖案(91)和第二光阻圖案(92)下方由非晶硅層(20)得到的非晶硅有源層(21),對(duì)應(yīng)于所述第三光阻圖案(93)下方由第一透明導(dǎo)電層(40)得到的像素電極(41);
步驟S4、對(duì)所述第一光阻層(90)進(jìn)行第一次灰化處理,薄化第二光阻圖案(92)及第三光阻圖案(93)并去除第一光阻圖案(91);
步驟S5、以所述第一光阻層(90)為遮蔽層進(jìn)行第二次蝕刻制程,去除N型摻雜非晶硅層(30)、第一透明導(dǎo)電層(40)及源漏極金屬層(50)上未被第一光阻層(90)覆蓋的部分,對(duì)應(yīng)于所述第二光阻圖案(92)下方由源漏極金屬層(50)得到對(duì)應(yīng)位于非晶硅有源層(21)兩端上方的源極(51)和漏極(52),由N型摻雜非晶硅層(30)得到對(duì)應(yīng)于源極(51)和漏極(52)下方的源漏極接觸區(qū)(31);
步驟S6、對(duì)所述第一光阻層(90)進(jìn)行第二次灰化處理,薄化第三光阻圖案(93)并去除第二光阻圖案(92);
步驟S7、以所述第一光阻層(90)為遮蔽層進(jìn)行第三次蝕刻制程,去除對(duì)應(yīng)于所述像素電極(41)上方的源漏極金屬層(50)而露出像素電極(41);剝離去除剩余的第一光阻層(90);
步驟S8、在襯底基板(10)上沉積形成覆蓋非晶硅有源層(21)、源極(51)、漏極(52)及像素電極(41)的鈍化層(60),通過第二道光罩制程在所述鈍化層(60)上形成分別對(duì)應(yīng)于漏極(52)和像素電極(41)上方的第一過孔(61)和第二過孔(62);
步驟S9、在所述鈍化層(60)上依次沉積形成第二透明導(dǎo)電層(70)及柵極金屬層(80);在所述源漏極金屬層(50)上涂布光阻材料并進(jìn)行第三道光罩制程,形成第二光阻層(95),所述第二光阻層(95)具有厚度依次增加的第四光阻圖案(96)及第五光阻圖案(97);
步驟S10、以所述第二光阻層(95)為遮蔽層進(jìn)行第一次蝕刻制程,去除所述第二透明導(dǎo)電層(70)及柵極金屬層(80)上未被第二光阻層(95)覆蓋的部分,對(duì)應(yīng)于所述第四光阻圖案(96)下方由柵極金屬層(80)得到對(duì)應(yīng)位于所述非晶硅有源層(21)上方的柵極(81)與所述柵極(81)相間隔的金屬公共電極線(82),對(duì)應(yīng)于所述五光阻圖案(97)下方由第二透明導(dǎo)電層(70)得到的導(dǎo)電連接塊(71)及與導(dǎo)電連接塊(71)相間隔的透明公共電極線(72),其中導(dǎo)電連接塊(71)分別通過第一過孔(61)和第二過孔(62)與漏極(52)和像素電極(41)相接觸,進(jìn)而將漏極(52)和像素電極(41)電導(dǎo)通;
步驟S11、對(duì)所述第二光阻層(95)進(jìn)行第一次灰化處理,薄化五光阻圖案(97)并去除第四光阻圖案(96);
步驟S12、以所述第二光阻層(95)為遮蔽層進(jìn)行第二次蝕刻制程,去除對(duì)應(yīng)于所述導(dǎo)電連接塊(71)和透明公共電極線(72)上方的柵極金屬層(80);剝離去除剩余的第二光阻層(95)。
2.如權(quán)利要求1所述的非晶硅TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步驟S2中通過灰階光罩進(jìn)行第一道光罩制程。
3.如權(quán)利要求1所述的非晶硅TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步驟S9中通過灰階光罩或半色調(diào)進(jìn)行第三道光罩制程。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





