[發明專利]新式尺桿、抹子、灰鏟結合標線儀室內抹灰打點法

在審

• 申請號: 201810479387.1
• 申請日: 2018-05-18
• 公開（公告）號: CN108547452A
• 公開（公告）日: 2018-09-18
• 發明（設計）人: 崔玉來;崔玉興
• 申請（專利權）人: 崔玉來
• 主分類號: E04G21/00
• 分類號: E04G21/00;E04F21/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了新式尺桿，抹子、灰鏟結合標線儀室內抹灰打點法，具體為室內凈控尺寸、規方，墻面垂直平整方法技術領域。規方控制方法：將膠和水泥按照比例混合均勻或者水泥和砂漿混合均勻；用手或者小鏟扔到墻上做成灰餅，上點距離地面約2.5米以下，下點距離地面1米以下，橫向點與點間距2米以內；凈控尺寸控制方法，在有控制線的情況下，將標線儀的中心點坐落在控制線的十字交叉點上，將標線儀的光線調節到與控制線重合。采用此種方法，可以使室內墻面更加垂直平整，更加的節約成本，提高施工速度，且還能提高控制的精度。

技術領域

本發明涉及一整套尺桿、抹子、灰鏟與標線儀結合打點法，具體為室內墻面抹灰、凈尺、規方、垂直平整方法的技術領域，具體涉及新式尺桿，抹子、灰鏟結合標線儀室內抹灰打點（灰餅）法。

背景技術

目前，在室內墻面垂直、平整，規方，精確控制室內凈控尺寸領域中，多數是采用線墜和鋁合金吊線尺、掛線繩來控制墻面的垂直和平整，這種方式精確度不夠，打點速度慢，怕風，效率低成本高。因此需要研究一種新的打點（灰餅）方法。

發明內容

本發明的目的在于提供節約成本，提高速度，且提高控制精度的新式室內抹灰、灰抹子、尺桿與標線儀結合打點（灰餅）法。

為實現上述目的，本發明提供以下技術方案：新式尺桿、抹子、灰鏟結合標線儀室內抹灰打點法：1-1、規方控制方法：將膠和水泥按照比例混合均勻或者水泥和砂漿混合均勻；用手或者小鏟扔到墻上做成灰餅，上點距離地面約2.5米以下，下點距離地面約1米以下，橫向點與點間距2米以內；具體間距根據施工要求決定；

1-2、在有控制線的情況下，將標線儀器的中心點或十字點坐落在控制線的十字交叉點上，將標線儀的光線調節到與控制線重合，利用自制尺桿或帶刻度尺的尺桿，將尺桿的一端頂在灰餅上，尺桿端平與標線儀發出的光線成90度，尺桿頂在灰餅上，看光線在尺桿上的刻度，使其達到控制尺寸的要求，如果光線在尺桿上的刻度高于要求的尺寸，則用手擠壓灰餅使其達要求的尺寸，如果低于要求的尺寸，則用尺桿向內壓縮灰餅，使其達到要求的尺寸；

1-3、在沒有控制線的情況下，將標線儀坐落于距墻面較近，即距離小于尺桿長度的任一點，將儀器打開，光線調制大約與墻面平行，用尺桿測量標線儀上方十字線的中心點與墻體的垂直距離，記住測量尺寸，再用尺桿在墻的另一端，測出同樣尺寸，用記號筆標注在光線照射的墻上或地面上。調制儀器光線與標記點重合。將尺桿頂在灰柄上，調節灰柄高度。使尺桿在光線上的刻度符合技術要求，灰柄有強度后，將多余部分切掉。

抹子、灰鏟標線打點法，將貼邊標線儀架在特制的帶有標尺的獨腿支架上，根據墻面的抹灰厚度來調節標線儀在支架上的尺寸，或者直接將標線儀座落地面上和沒有標尺的支架上，來調節想要的理想尺寸，再用抹子或灰鏟將沙灰抹在墻上，每個灰餅抹到和光線內面一平，或者抹子灰鏟側面與光線重合，用灰鏟或抹子將灰餅多余部分割掉；

2-1、凈控尺寸控制方法，在有控制線的情況下，將標線儀的中心點坐落在控制線的十字交叉點上，將標線儀的光線調節到與控制線重合；將尺桿頂在灰柄上，調節灰柄高度。使尺桿在光線上的刻度符合技術要求，灰柄有強度后，將多余部分切掉。

2-2、在沒有控制線的情況下，方法如步驟1-3所示使儀器光線與標記點重合后，從儀器的中心點沿光線排尺做標記點；將標線儀坐落在標記點上，調節光線重合。將尺桿頂在灰柄上，調節灰柄高度。使尺桿在光線上的刻度符合技術要求，灰柄有強度后，將多余部分切掉。

2-3、如果排尺不方便的情況下，儀器光線與標尺重合后，在墻體上做好灰餅取其中一點后，在對面相對的點做灰餅,將測距儀放在此灰餅上，測量到對面灰餅頂面的距離，調節灰餅厚度，使測距儀的數據為開間凈尺寸，用尺桿測量該灰餅到光線上的距離，以此距離為標準，做此墻上其他灰餅，待灰餅有強度后，用刀將膠泥點多余部分切除掉。