[發明專利]基于光量子學的真隨機數發生裝置及方法在審
| 申請號: | 201810478825.2 | 申請日: | 2018-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN108762724A | 公開(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發明(設計)人: | 張洪濤;王銳;李儒彬;陳健;秦杰杰;王塬鵬 | 申請(專利權)人: | 湖北工業大學 |
| 主分類號: | G06F7/58 | 分類號: | G06F7/58 |
| 代理公司: | 武漢開元知識產權代理有限公司 42104 | 代理人: | 劉琳 |
| 地址: | 430068 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 發生裝置 真隨機數 光量子 光脈沖 透射 反射 光電探測模塊 單光子序列 高低電平 隨機數 隨機性 光電信號處理 隨機數結果 發生模塊 光學器件 激光光源 系統誤差 校正程序 序列生成 等概率 光偏振 光子數 光子 疊加 轉換 檢測 保證 | ||
1.一種基于光量子學的真隨機數發生裝置,其特征在于:所述裝置包括光脈沖發生模塊(1)、光學器件(2)、透射光電探測模塊(3-1)、反射光電探測模塊(3-2)、光電信號處理模塊(4)、FPGA單元(5);
所述光脈沖發生模塊(1):用于產生光脈沖信號;
所述光學器件(2):包括光衰減器(2-1)、電光偏振控制器(2-2)、50/50光分束器(2-3),所述光衰減器(2-1)用于將光脈沖信號轉換為離散的單光子序列,所述電光偏振控制器(2-2)用于對單光子序列產生的偏振態;所述50/50光分束器(2-3)用于對經過偏振態的光子序列以50%:50%的幾率透射或者反射;
所述透射光電探測模塊(3-1):設置于50/50光分束器(2-3)的透射輸出端,用于探測光子并輸出透射光電信號ui1;
所述反射光電探測模塊(3-2):設置于50/50光分束器(2-3)的反射輸出端,用于探測光子并輸出反射光電信號ui2;
所述光電信號處理模塊(4):用于根據透射光電信號ui1與反射光電信號ui2的差值輸出高低電平信號;
所述FPGA單元(5):用于根據高低電平信號生成隨機數“0”和“1”序列,通過USB總線形式發送至上位機(6)。
2.根據權利要求1所述的基于光量子學的真隨機數發生裝置,其特征在于:所述FPGA單元(5)計算所生成的隨機數序列中“0”和“1”的個數的差值,若其差值大于預設值,則輸出校正電壓數字信號,直至隨機數序列中“0”和“1”的個數的差值小于預設值。
3.根據權利要求2所述的基于光量子學的真隨機數發生裝置,其特征在于:還包括D/A轉換模塊(7),所述D/A轉換模塊(7)用于根據FPGA單元(5)輸出的校正電壓數字信號向電光偏振控制器(2-2)輸出電壓。
4.根據權利要求1所述的基于光量子學的真隨機數發生裝置,其特征在于:所述光脈沖發生模塊(1)包括時鐘電路、激光二極管、激光二極管驅動電路,所述時鐘電路產生脈沖信號,驅動激光二極管根據脈沖信號發出光脈沖信號。
5.根據權利要求1所述的基于光量子學的真隨機數發生裝置,其特征在于:所述電光偏振控制器(2-2)為兩端被施加恒定電壓的光偏振效應晶體。
6.根據權利要求1所述的基于光量子學的真隨機數發生裝置,其特征在于:所述透射光電探測模塊(3-1)和反射光電探測模塊(3-2)為相同結構,包括單光子前端檢測電路和光電信號放大電路。
7.根據權利要求1所述的基于光量子學的真隨機數發生裝置,其特征在于:所述光電信號處理模塊(4)包括前級模擬減法電路和后級比較電路,所述前級模擬減法電路用于根據透射光電信號ui1與反射光電信號ui2輸出差值信號u0,所述后級比較電路用于根據差值信號u0的正或負輸出高電平或者低電平。
8.根據權利要求1所述的基于光量子學的真隨機數發生裝置,其特征在于:所述FPGA單元(5)包括倍頻模塊(5-1)、邊緣檢測模塊(5-2)、8位計數器(5-3)、奇偶校驗器(5-4)、移位寄存器(5-5)、FIFO緩沖區(5-6)、USB接口(5-7)、控制邏輯單元(5-8)、校正電壓輸出模塊(5-9)。
9.一種基于光量子學的真隨機數發生方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)產生光脈沖;
2)將光脈沖轉換為單光子序列;
3)將單光子序列經過光偏振處于疊加態的每個光子以50%:50%的幾率透射或者反射;
4)分別檢測透射或者反射的光子數,以其差值的正負性產生高低電平序列;
5)將所述高低電平序列生成隨機數“0”和“1”序列,作為隨機數結果。
10.根據權利要求9所述的基于光量子學的真隨機數發生方法,其特征在于:所述方法還包括:6)采集隨機數序列中“0”和“1”的個數的差值,若其差值大于預設值,則調整步驟3)中單光子序列的偏振態,直至隨機數序列中“0”和“1”的個數的差值小于預設值。
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