[發明專利]半導體器件及其存儲系統和用于控制刷新操作的方法有效
| 申請號: | 201810478736.8 | 申請日: | 2018-05-18 |
| 公開(公告)號: | CN108958962B | 公開(公告)日: | 2021-11-09 |
| 發明(設計)人: | 陳永栽;金俊宇;宋永旭 | 申請(專利權)人: | 愛思開海力士有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10;G11C11/406;G11C29/42 |
| 代理公司: | 北京弘權知識產權代理有限公司 11363 | 代理人: | 李少丹;許偉群 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體器件 及其 存儲系統 用于 控制 刷新 操作 方法 | ||
1.一種半導體器件,包括:
清理電路,其被配置為參考從ECC電路輸出的已校正的數據來執行用于存儲器件的清理操作;
弱點檢測器,其被配置為通過參考從清理電路輸出的發生錯誤的地址而針對存儲器件的多個區域來管理錯誤發生信息,基于錯誤發生信息而控制在所述多個區域的每個區域處針對第一刷新命令的第一刷新周期,以及基于錯誤發生信息而產生針對包括在所述多個區域的每個區域中的第二刷新地址的第二刷新請求;以及
刷新控制器,其被配置為根據第一刷新周期產生第一刷新命令并且將第一刷新命令輸出到存儲器件,并且被配置為根據第二刷新請求和第二刷新地址來將第二刷新命令和第二刷新地址輸出到存儲器件。
2.根據權利要求1所述的半導體器件,其中,弱點檢測器包括檢測電路,所述檢測電路包括多個子檢測電路,以及
其中,子檢測電路中的每個子檢測電路包括:
第一寄存器,其被配置為管理對應區域的錯誤發生信息;以及
控制電路,其被配置為基于第一寄存器來控制對應區域的第一刷新周期,并且產生針對包括在對應區域中的第二刷新地址的第二刷新請求。
3.根據權利要求2所述的半導體器件,其中,弱點檢測器還包括指定所述多個區域中的與地址相對應的區域的地址解碼器。
4.根據權利要求2所述的半導體器件,其中,第一寄存器包括多個條目,其中每個條目包括地址字段、錯誤計數字段和第二刷新周期字段。
5.根據權利要求4所述的半導體器件,其中,當針對對應區域的清理操作完成時,控制電路通過參考第一寄存器來更新對應區域的第一刷新周期。
6.根據權利要求5所述的半導體器件,其中,控制電路根據第一寄存器中條目的數量來調整第一刷新周期。
7.根據權利要求4所述的半導體器件,其中,控制電路根據錯誤計數字段的值和第一刷新周期字段的值來調整第二刷新周期字段的值。
8.根據權利要求7所述的半導體器件,其中,當錯誤計數字段的值為0或大于預定閾值時,控制電路不產生針對地址的第二刷新請求。
9.根據權利要求4所述的半導體器件,其中,子檢測電路還包括第一計數器陣列,以及
其中,第一計數器陣列包括與所述多個條目相對應的多個第二刷新計數器,并且所述多個第二刷新計數器中的每個第二刷新計數器對包括在對應條目中的第二刷新周期字段的值進行計數。
10.根據權利要求9所述的半導體器件,其中,刷新控制器將與第一刷新命令相對應的第一刷新地址提供給弱點檢測器,并且控制電路重置與包括第一刷新地址的條目相對應的第二刷新計數器。
11.根據權利要求4所述的半導體器件,其中,所述多個條目中的每個條目還包括標志字段,并且其中,當發生不可校正的錯誤時或當錯誤的數量大于預定值時,控制電路激活標志字段。
12.根據權利要求1所述的半導體器件,其中,刷新控制器包括與所述多個區域相對應的多個子刷新控制器,所述多個子刷新控制器中的每個子刷新控制器包括:
第一刷新周期計數器,其被配置為對根據與從弱點檢測器輸入的地址相對應的對應區域的第一刷新周期來設置的計數值進行計數;
第二寄存器,其被配置為將最近刷新的地址儲存在對應的區域中;
第一刷新命令發生器,其被配置為根據第一刷新周期計數器的計數操作來產生第一刷新命令;以及
第二刷新命令發生器,其被配置為根據從弱點檢測器輸入的第二刷新請求和第二刷新地址來產生第二刷新命令和第二刷新地址。
13.根據權利要求12所述的半導體器件,其中,計數值與第一刷新周期除以對應區域中包括的行地址的數量而獲得的值相對應。
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