[發(fā)明專利]一種孔徑測量裝置以及測量設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810476420.5
• 申請日: 2018-05-17
• 公開（公告）號: CN108387182A
• 公開（公告）日: 2018-08-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳啟愉;王宇;吳智恒;段先云;童季剛;李平;莫爵賢
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東省智能制造研究所
• 主分類號: G01B11/12
• 分類號: G01B11/12
• 代理公司: 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371
• 代理人: 曾章沐

1.一種孔徑測量裝置，用于測量工件上孔洞的直徑，其特征在于，所述孔徑測量裝置包括機架、第一光源、工控機、圖像采集器和圖像處理器，所述機架用于放置所述工件，所述第一光源固定安裝于所述機架上，且與所述工控機連接，所述第一光源能夠照射所述工件，所述圖像采集器固定安裝于所述機架上，且與所述工控機連接，所述圖像采集器用于采集所述工件的待測圖片，并將所述待測圖片發(fā)送給所述工控機，所述工控機與所述圖像處理器連接，所述圖像處理器用于接收所述待測圖片，并根據(jù)所述待測圖片測量出所述工件上孔洞的直徑。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的孔徑測量裝置，其特征在于，所述機架包括支撐架和基臺，所述支撐架與所述基臺連接，所述圖像采集器固定安裝于所述支撐架上，所述第一光源安裝于所述基臺上，且與所述圖像采集器的位置相對應(yīng)，所述基臺用于放置所述工件。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的孔徑測量裝置，其特征在于，所述支撐架呈U形，所述支撐架包括第一支撐桿、連接桿和第二支撐桿，所述第一支撐桿的一端與所述基臺連接，另一端通過所述連接桿與所述第二支撐桿連接，所述第二支撐桿與所述基臺連接，所述圖像采集器固定安裝于所述連接桿上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的孔徑測量裝置，其特征在于，所述孔徑測量裝置還包括感應(yīng)器和觸發(fā)器，所述感應(yīng)器安裝于所述機架上，且與所述觸發(fā)器連接，所述感應(yīng)器用于在檢測到所述工件放置于預(yù)設(shè)位置時向所述觸發(fā)器發(fā)出控制信號，所述觸發(fā)器與所述圖像采集器連接，所述觸發(fā)器用于接收所述控制信號，并控制所述圖像采集器采集所述待測圖片。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的孔徑測量裝置，其特征在于，所述感應(yīng)器和所述觸發(fā)器均為對射傳感器。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的孔徑測量裝置，其特征在于，所述孔徑測量裝置還包括第二光源，所述第二光源安裝于所述機架上，且與所述圖像采集器間隔設(shè)置，所述第二光源用于提高所述工件表面特征的對比度。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的孔徑測量裝置，其特征在于，所述第二光源呈環(huán)狀，所述第二光源設(shè)置于所述圖像采集器和所述第一光源之間，所述第二光源的位置與所述第一光源的位置相對應(yīng)。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的孔徑測量裝置，其特征在于，所述第一光源為白光光源，所述第二光源為紅外線光源。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的孔徑測量裝置，其特征在于，所述圖像采集器為工業(yè)相機。

10.一種測量設(shè)備，其特征在于，用于測量工件上孔洞的直徑，所述測量設(shè)備包括孔徑測量裝置和移動架，所述孔徑測量裝置包括機架、第一光源、工控機、圖像采集器和圖像處理器，所述機架安裝于所述移動架上，所述機架用于放置所述工件，所述第一光源固定安裝于所述機架上，且與所述工控機連接，所述第一光源能夠照射所述工件，所述圖像采集器固定安裝于所述機架上，且與所述工控機連接，所述圖像采集器用于采集所述工件的待測圖片，并將所述待測圖片發(fā)送給所述工控機，所述工控機與所述圖像處理器連接，所述圖像處理器用于接收所述待測圖片，并根據(jù)所述待測圖片測量出所述工件上孔洞的直徑。