[發明專利]USB-C設備的測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201810463515.3
• 申請日: 2018-05-15
• 公開（公告）號: CN108663590A
• 公開（公告）日: 2018-10-16
• 發明（設計）人: 李金秀
• 申請（專利權）人: 硅谷數模半導體(北京)有限公司;硅谷數模國際有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 趙囡囡;曾紅芳

1.一種USB-C設備的測試裝置，其特征在于，包括：電力傳輸控制器，選擇器和微控制器，其中，

所述電力傳輸控制器，連接至所述微控制器，用于連接到待測USB-C設備并獲取所述待測USB-C設備的電力傳輸信息，并將獲取的所述電力傳輸信息傳輸給所述微控制器；

所述選擇器，連接至所述微控制器，用于對所述待測USB-C設備要測試的電力數據對象PDO進行選擇，并將選擇的PDO傳輸給所述微控制器；

所述微控制器，用于根據所述電力傳輸信息以及所述選擇器選擇的PDO，通過向所述電力傳輸控制器發送控制指令，對所述待測USB-C設備的性能進行測試。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，

所述微控制器，還用于根據所述選擇器選擇的PDO，確定對所述待測USB-C設備進行性能測試的過壓保護的電壓閾值和/或過流保護的電流閾值；并將確定的所述電壓閾值和/或電流閾值發送給所述電力傳輸控制器；

所述電力傳輸控制器，還用于根據所述電壓閾值和/或所述電流閾值，對所述待測USB-C設備的性能測試電路進行保護。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，

所述電力傳輸控制器，還用于在檢測到所述待測USB-C設備的性能測試電路的電壓超過所述電壓閾值和/或電流超過所述電流閾值的情況下，控制所述電力傳輸控制器與所述待測USB-C設備的連接斷開，和/或，控制所述電力傳輸控制器與負載的連接斷開。

4.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，

所述微控制器，還用于從所述電力傳輸控制器獲取所述待測USB-C設備的源能力消息，其中，所述源能力消息中攜帶有所述待測USB-C設備能支持的PDO；

所述微控制器，還用于在所述選擇器選擇的PDO與所述源能力消息中所攜帶的PDO不匹配的情況下，將所述選擇器選擇的PDO修改為所述源能力消息中所攜帶的PDO，并根據修改后的PDO對所述待測USB-C設備的性能進行測試。

5.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，

所述微控制器，還用于向所述電力傳輸控制器發送負載調節指令，通過對負載的調節對所述待測USB-C設備的性能進行測試。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

顯示模塊，連接至所述微控制器，用于將所述微控制器接收到的所述選擇器選擇的PDO進行顯示，用于將所述微控制器接收到的所述電力傳輸控制器檢測到的對所述待測USB-C設備進行性能測試的測試參數進行顯示。

7.一種USB-C設備的測試方法，其特征在于，包括：

獲取待測USB-C設備的電力傳輸信息；

接收到對待測USB-C設備進行性能測試的電力傳輸對象PDO，其中，所述PDO是從多個PDO中選擇出來的；

根據接收到的所述PDO，以及獲取到的所述電力傳輸信息，對所述待測USB-C設備的性能進行測試。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，根據接收到的所述PDO，以及獲取到的所述電力傳輸信息，對所述待測USB-C設備的性能進行測試包括：

根據接收到的所述PDO，確定對所述待測USB-C設備進行性能測試的過壓保護的電壓閾值和/或過流保護的電流閾值；

根據所述電壓閾值和/或所述電流閾值，對所述待測USB-C設備的性能測試電路進行保護。

9.根據權利要求7或8所述的方法，其特征在于，還包括：

獲取對所述待測USB-C設備進行性能測試的測試參數；

對接收到的所述PDO，以及獲取到的所述測試參數進行顯示。

10.一種USB-C設備的測試裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取待測USB-C設備的電力傳輸信息；

接收模塊，用于接收到對待測USB-C設備進行性能測試的電力傳輸對象PDO，其中，所述PDO是從多個PDO中選擇出來的；

控制模塊，用于根據接收到的所述PDO，以及獲取到的所述電力傳輸信息，對所述待測USB-C設備的性能進行測試。