[發明專利]光學材料用光學分析儀器及測試方法

在審

• 申請號: 201810460370.1
• 申請日: 2018-05-15
• 公開（公告）號: CN108918412A
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發明（設計）人: 黃凌雄;張戈;陳瑞平;李丙軒;廖文斌
• 申請（專利權）人: 中國科學院福建物質結構研究所
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/03;G01N21/23
• 代理公司: 北京元周律知識產權代理有限公司 11540
• 代理人: 李花

1.一種光學材料用光學分析儀器，其特征在于，包括：激光光源、樣品平臺和主探測器，光學樣品設置于所述樣品平臺上，所述激光光源與所述光學樣品的入光面光路連接；

所述主探測器與所述光學樣品的出光面光路連接，所述樣品平臺包括加載裝置，所述加載裝置向所述光學樣品加載至少一種外場。

2.根據權利要求1所述的光學材料用光學分析儀器，其特征在于，所述光學材料用光學分析儀器還包括：系統光路，所述系統光路設置于所述激光光源和所述光學樣品的入光面的連接光路中，所述系統光路包括：第一偏振光學器件、光闌和平行光管，所述激光光源與所述第一偏振光學器件光路連接；

所述第一偏振光學器件與所述光闌光路連接；所述光闌與所述平行光管光路連接；所述平行光管與所述光學樣品的入光面光路連接。

3.根據權利要求2所述的光學材料用光學分析儀器，其特征在于，所述系統光路還包括：半透/半反射鏡和輔助探測器，所述半透/半反射鏡與所述平行光管光路連接；

入射和/或反射進入所述半透/半反射鏡的激光與所述輔助探測器光路連接；透射所述半透/半反射鏡的激光與所述光學樣品光路連接。

4.根據權利要求1所述的光學材料用光學分析儀器，其特征在于，所述激光光源的能量強度＞0；

所述激光光源為紫外激光、可見波長激光或近紅外激光中的至少一種。

5.根據權利要求1所述的光學材料用光學分析儀器，其特征在于，所述樣品平臺繞所述樣品平臺中心軸旋轉，并能讀取轉動角度的度數。

6.根據權利要求1所述的光學材料用光學分析儀器，其特征在于，所述外場為溫度場和/或電壓場。

7.根據權利要求1所述的光學材料用光學分析儀器，其特征在于，所述加載裝置包括溫場裝置和供電裝置，所述溫場裝置設置于所述樣品平臺上，并調節所述光學樣品的溫度；

所述供電裝置設置于所述樣品平臺上，并向所述光學樣品供電。

8.根據權利要求7所述的光學材料用光學分析儀器，其特征在于，所述溫場裝置為電阻加熱元件，所述電阻加熱元件提供的溫場為室溫～500℃；

或所述溫場裝置為半導體元件，所述半導體元件提供的溫場為-20～100℃；

或所述溫場裝置為液氮，所述液氮提供的溫場為-100℃～室溫；

所述供電裝置提供的電場為0～10000V。

9.根據權利要求1所述的光學材料用光學分析儀器，其特征在于，所述光學材料用光學分析儀器還包括：主探測器平臺和第二偏振光學器件，所述第二偏振光學器件設置于所述主探測器與所述光學樣品出光面相連的光路上；

所述第二偏振光學器件與所述主探測器設置于所述主探測器平臺上；所述主探測器平臺以所述光學樣品為軸心繞所述光學樣品旋轉。

10.一種采用如權利要求1～9中任一項所述的光學材料用光學分析儀器進行光學材料測試的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟S100：向所述光學樣品加載外場；

步驟S200：激光照射所述光學樣品，獲取所述光學樣品出光面的光學信息；

步驟S300：調節所述外場，按光學檢測方法對所述光學信息進行分析，得到所述光學晶體的雙折射點和/或折射率隨所述外場的變化，分析所述變化得到各所述外場對應的所述光學樣品的相變或疇結構變化。