[發明專利]一種馬赫曾德爾干涉儀結構的新型紫外光強探測器

在審

• 申請號: 201810456890.5
• 申請日: 2018-05-14
• 公開（公告）號: CN108645511A
• 公開（公告）日: 2018-10-12
• 發明（設計）人: 吳杰云;李青;陳開鑫;鄧國偉;鄭建成
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/02;G01J3/02;G01J3/45;G01J3/14
• 代理公司: 成都虹盛匯泉專利代理有限公司 51268
• 代理人: 王偉

1.一種馬赫曾德爾干涉儀結構的新型紫外光強探測器，其特征在于，包括：輸入波導、輸出波導、參考臂、傳感臂、第一波導結構以及第二波導結構；光進入輸入波導激發出第一基模光波，第一基模光波經第一波導結構后激發出兩束相位相同的第二基模光波，第二基模光波分別經參考臂、傳感臂傳輸至第二波導結構處匯合，匯合后的兩束光波在輸出波導中發生干涉，然后輸出；

所述傳感臂上包層材料為紫外敏感材料。

2.根據權利要求1所述的一種馬赫曾德爾干涉儀結構的新型紫外光強探測器，其特征在于，所述紫外光敏感材料的折射率大小隨紫外光照射時間成正比。

3.根據權利要求2所述的一種馬赫曾德爾干涉儀結構的新型紫外光強探測器，其特征在于，所述紫外敏感材料為：由聚甲基丙烯酸甲酯和聚苯乙烯的共聚物PMMA-PS與對紫外光敏感的有機小分子材料組成的混合物。

4.根據權利要求3所述的一種馬赫曾德爾干涉儀結構的新型紫外光強探測器，其特征在于，所述參考臂、傳感臂為單模波導。

5.根據權利要求4所述的一種馬赫曾德爾干涉儀結構的新型紫外光強探測器，其特征在于，所述第一波導結構為：多模干涉儀或雙模Y分支干涉儀或定向耦合器。

6.根據權利要求5所述的一種馬赫曾德爾干涉儀結構的新型紫外光強探測器，其特征在于，所述第二波導結構為：單模Y分支干涉儀。