[發明專利]成像方法和裝置、CT系統及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201810455028.2
• 申請日: 2018-05-14
• 公開（公告）號: CN110477939A
• 公開（公告）日: 2019-11-22
• 發明（設計）人: 李宏宇;李碩;童曉蕾
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 31100 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 汪駿飛;侯穎媖<國際申請>=<國際公布>

1.一種成像方法，包括：

分別基于被檢測對象在第一電壓和第二電壓的X射線下的投影數據重構第一CT圖像和第二CT圖像；

根據所述第一CT圖像確定比例系數；以及

基于所述第一CT圖像，所述第二CT圖像和所述比例系數生成第三CT圖像。

2.如權利要求1所述的成像方法，還包括：在相對被檢測對象的多個位置向所述被檢測對象交替地施加第一電壓和第二電壓的X射線，以獲取所述被檢測對象在第一電壓和第二電壓的X射線下的所述投影數據。

3.如權利要求1所述的成像方法，其中，根據所述第一CT圖像確定比例系數包括基于像素值與比例系數之間預設的函數關系，確定所述第一CT圖像中每個像素點的像素值對應的比例系數。

4.如權利要求1所述的成像方法，其中，基于所述第一CT圖像，所述第二CT圖像和所述比例系數生成第三CT圖像包括將所述第一CT圖像中每個像素點的像素值對應的所述比例系數賦予給與所述第一CT圖像的該像素點相對應的所述第二CT圖像的該像素點的像素值，并將數值1與所述比例系數的差值賦予給所述第一CT圖像在該像素點的像素值，并根據如下公式計算所述第三CT圖像的所有像素點的像素值，以生成所述第三CT圖像：

i_3m＝(1-μ_m)*i_1m+μ_m*i_2m+b

其中，μ_m為根據所述第一CT圖像中第m個像素點的像素值確定的比例系數，i_1m為所述第一CT圖像第m個像素點的像素值，i_2m為所述第二CT圖像第m個像素點的像素值，i_3m為所述第三CT圖像第m個像素點的像素值，m為大于或等于1的整數，b為整數。

5.如權利要求3所述的成像方法，其中，所述像素值與比例系數之間預設的函數關系是在實驗條件下確定并保存在CT系統中的，所述像素值與比例系數之間的函數關系的確定方法包括：

分別基于被檢測對象在第一電壓，第二電壓和第三電壓的X射線下的投影數據重構第一實驗圖像，第二實驗圖像和第三實驗圖像；

將所述第一實驗圖像根據像素值劃分為一個或多個區域，并針對第一實驗圖像在所述一個或多個區域中的每個區域確定第一像素值，針對第二實驗圖像在與所述第一實驗圖像對應的所述一個或多個區域中的每個區域確定第二像素值，并針對第三實驗圖像在與所述第一實驗圖像對應的所述一個或多個區域中的每個區域確定第三像素值；

在所述一個或多個區域的每個區域中，基于給定的關系模型并根據所述第一像素值和所述第二像素值計算得到的第三模擬像素值與所述第三像素值之間的差值最小化計算該區域的實驗比例系數；以及

基于所述一個或多個區域的每個區域中的所述第一像素值和所述實驗比例系數，確定像素值和比例系數之間的所述函數關系。

6.如權利要求5所述的成像方法，其中，所述第一像素值為所述第一實驗圖像在所述一個或多個區域中的每個區域的所有像素值的平均值，所述第二像素值為所述第二實驗圖像在與所述第一實驗圖像對應的所述一個或多個區域中的每個區域的所有像素值的平均值，且所述第三像素值為所述第三實驗圖像在與所述第一實驗圖像對應的所述一個或多個區域中的每個區域的所有像素值的平均值。

7.如權利要求5所述的成像方法，其中，所述給定的關系模型包括：

I′₃＝(1-μ′)*I′₁+μ′*I′₂+b

其中，I′₁為所述第一實驗圖像，I′₂為所述第二實驗圖像，I′₃為所述第三實驗圖像，μ′為所述實驗比例系數，b為整數。

8.如權利要求5所述的成像方法，其中，所述像素值和比例系數之間的函數關系是根據擬合像素值和實驗比例系數的方式計算得到的。