[發(fā)明專利]一種精密測量復合架及測量裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810450947.0 | 申請日： | 2018-05-11 |
| 公開（公告）號： | CN108375359A | 公開（公告）日： | 2018-08-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 袁玫;張金龍;李德悅 | 申請（專利權(quán)）人： | 中鐵工程設(shè)計咨詢集團有限公司 |
| 主分類號： | G01B21/00 | 分類號： | G01B21/00;G01B21/02 |
| 代理公司： | 北京集智東方知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11578 | 代理人： | 陳亞斌;關(guān)兆輝 |
| 地址： | 100055 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測量 測量裝置 精密測量 棱鏡 安裝位 復合架 架體 控制點 測量效率 架體頂部 平面測量 天窗 體內(nèi)部 中空的 加密 容納 | ||
1.一種精密測量復合架，其特征在于，包括：架體，其具有中空的內(nèi)部；
所述架體底部設(shè)有用于安裝進行CPⅢ測量的基座和棱鏡的第一安裝位，且所述架體內(nèi)部用于容納進行CPⅢ測量的棱鏡；所述架體頂部設(shè)有用于安裝進行CPⅡ測量的GPS天線的第二安裝位。
2.如權(quán)利要求1所述的精密測量復合架，其特征在于，所述架體側(cè)部設(shè)有用于安裝可對所述GPS天線高度進行測量的量具的第三安裝位。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的精密測量復合架，其特征在于，所述架體整體為矩形或正方形。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的精密測量復合架，其特征在于，所述架體的四個轉(zhuǎn)角處均為弧形，且所述架體內(nèi)部的周面上設(shè)有弧形加強筋。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的精密測量復合架，其特征在于，所述架體高度為165-175mm，寬度為120-140mm，厚度20-30mm；所述架體內(nèi)部凈空高度為150-160mm，寬度為115-125mm。
6.一種可同時進行CPⅡ和CPⅢ測量的測量裝置，其特征在于，包括：用于進行CPⅢ測量的基座和棱鏡、用于進行CPⅡ測量的GPS天線以及如權(quán)利要求2所述的精密測量復合架。
7.如權(quán)利要求6所述的測量裝置，其特征在于，所述進行CPⅢ測量的基座和棱鏡通過所述第一安裝位可拆卸地連接；所述進行CPⅡ測量的GPS天線與所述第二安裝位可拆卸地連接。
8.如權(quán)利要求7所述的測量裝置，其特征在于，所述基座包括插接部，其穿過所述第一安裝位后與容納于所述架體內(nèi)部的棱鏡插接。
9.如權(quán)利要求6-8任一項所述的測量裝置，其特征在于，所述棱鏡與GPS天線所處的平面精度小于0.6mm。
10.如權(quán)利要求9所述的測量裝置，其特征在于，所述測量裝置還包括：可對所述GPS天線高度進行測量的量具，且所述量具與所述第三安裝位可拆卸地連接。
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