[發明專利]雙通道背散射檢測設備在審
| 申請號: | 201810445509.5 | 申請日: | 2018-05-10 |
| 公開(公告)號: | CN108594317A | 公開(公告)日: | 2018-09-28 |
| 發明(設計)人: | 陳志強;吳萬龍;丁富華;桑斌;鄭志敏;唐樂 | 申請(專利權)人: | 同方威視技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01V5/00 | 分類號: | G01V5/00;G01N23/203 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 方丁一 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 筆形 第二探測器 第一探測器 檢測設備 散射信號 背散射 雙通道 散射 探測 發射 | ||
一種雙通道背散射檢測設備,其包括:雙飛點X光機,用于分別向其兩側發射第一X射線筆形束和第二X射線筆形束;第一通道和第二通道,分別設置在所述雙飛點X光機兩側,分別用于放置第一被檢目標和第二被檢目標;以及第一探測器和第二探測器,所述第一探測器設置在所述第一通道和所述雙飛點X光機之間,用于探測所述第一X射線筆形束經第一被檢目標散射的第一散射信號,所述第二探測器設置在所述第二通道和所述雙飛點X光機之間,用于探測所述第二X射線筆形束經第二被檢目標散射的第二散射信號。
技術領域
本發明涉及安全檢查技術領域,具體涉及一種雙通道背散射檢測設備,用于檢測行人、物品或車輛等。
背景技術
X射線背散射成像技術利用康普頓散射原理,將X射線源與探測器置于被檢目標的同側,利用飛點掃描裝置將X射線源發出的扇形束調制成筆形束,然后同向收集被檢目標表層散射返回的X射線,經過數據采集和圖像處理后得到被檢目標表層的圖像,無需接觸即可查出被藏匿的違禁品。該技術輻射量劑量低,安全性好,對輕質材料敏感,已被廣泛應用于人體、貨物和車輛的安全檢查領域。
已知的單通道單側分時掃描背散射設備,結構簡單,只需要一套飛點X光機、探測器和傳動裝置即可,但是掃描效率較低,且需要被檢目標翻轉一次才能完成雙側掃描。
已知的單通道雙側同步掃描背散射設備,在一個通道的兩邊布置兩套飛點X光機、探測器和傳動裝置,通過單次行程即可完成被檢目標的雙側掃描。該模式雖然掃描效率提高了,但是較之于單側分時模式,飛點X光機、探測器、運動機構等核心部件增加一倍,特別是飛點X光機一般體積重量大且結構分散,如此就給整機設備帶來體積增大、成本提高、設計復雜和使用不便等問題。
由此可見,通道式散射檢查設備的現有技術有必要加以提高和完善,以期能夠通過較小的占地空間、較輕的重量、較低的成本和較簡單的設計,有效而快速地完成被檢目標的全面查驗。
因此,如何研發一種快速實現安全檢查,且結構簡單的背散射檢測設備,成為人們亟待解決的問題。
發明內容
鑒于上述技術問題,為了克服上述現有技術的不足,本發明提出了一種雙通道背散射檢測設備。
根據本發明的一個方面,提供一種雙通道背散射檢測設備,包括:雙飛點X光機,用于分別向其兩側發射第一X射線筆形束和第二X射線筆形束;第一通道和第二通道,分別設置在所述雙飛點X光機兩側,分別用于放置第一被檢目標和第二被檢目標;以及第一探測器和第二探測器,所述第一探測器設置在所述第一通道和所述雙飛點X光機之間,用于探測所述第一X射線筆形束經第一被檢目標散射的第一散射信號,所述第二探測器設置在所述第二通道和所述雙飛點X光機之間,用于探測所述第二X射線筆形束經第二被檢目標散射的第二散射信號。
在一些實施例中,所述雙通道背散射檢測設備,還包括:傳動裝置,其帶動所述雙飛點X光機或所述第一被檢目標和第二被檢目標移動,使得所述第一被檢目標和第二被檢目標相對于所述雙飛點X光機在同時垂直于第一X射線筆形束和第二X射線筆形束的方向上移動。
在一些實施例中,所述傳動裝置與所述雙飛點X光機、第一探測器和第二探測器固定連接設置,所述雙飛點X光機、第一探測器和第二探測器在所述傳動裝置的帶動下可以沿所述第一通道和第二通道的縱向長度方向移動。
在一些實施例中,所述第一X射線筆形束和第二X射線筆形束之間呈第一預定角度。
在一些實施例中,所述第一預定角度為180°,所述第一X射線筆形束在垂直于第一被檢目標相對于所述雙飛點X光機移動方向的平面上沿順時針或逆時針掃描所述第一被檢目標,所述第二X射線筆形束在在垂直于第二被檢目標相對于所述雙飛點X光機移動方向的平面上沿逆時針或順時針掃描所述第二被檢目標。
在一些實施例中,所述第一X射線筆形束和第二X射線筆形束的能量相同或不同。
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