[發明專利]物體檢測方法、系統、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 201810442472.0
• 申請日: 2018-05-10
• 公開（公告）號: CN108596905A
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發明（設計）人: 羅小軍;吳豐禮;孫高磊;李相前;梅能華
• 申請（專利權）人: 廣東拓斯達科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 陳金普

1.一種物體檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取待測物體圖像的第一特征點和模板圖像的第二特征點，其中，所述第一特征點所表示的在待測物體上的位置與所述第二特征點所表示的在模板上的位置相同；

根據所述第一特征點和所述第二特征點獲取透視變換矩陣；

根據所述變換矩陣將所述待測物體圖像轉換為待對比圖像，并根據所述待對比圖像與所述模板圖像檢測所述待測物體的缺陷。

2.根據權利要求1所述的物體檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一特征點和所述第二特征點獲取透視變換矩陣的步驟，包括以下步驟：

根據所述第一特征點和所述第二特征點建立透視變換等式；

根據所述透視變換等式求解所述透視變換矩陣。

3.根據權利要求2所述的物體檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一特征點和所述第二特征點建立透視變換等式的步驟，包括以下步驟：

確定為所述第一特征點和所述第二特征點的變換關系，其中，i為所述待測物體上與所述模板上相同位置的序號，x_i和y_i分別為第i個第一特征點的橫坐標和縱坐標，z_i滿足z_i＝a₁₃u_i+a₂₃v_i+a₃₃，u_i和v_i分別為第i個第二特征點的橫坐標和縱坐標，為所述透視變換矩陣，a₁₁、a₁₂、a₁₃、a₂₁、a₂₂、a₂₃、a₃₁、a₃₂和a₃₃分別為所述透視變換矩陣的元素；

根據所述變換關系獲得和其中，和為所述透視變換等式，i為所述待測物體上與所述模板上相同位置的序號，x_i和y_i分別為第i個第一特征點的橫坐標和縱坐標，u_i和v_i分別為第i個第二特征點的橫坐標和縱坐標，a₁₁、a₁₂、a₁₃、a₂₁、a₂₂、a₂₃、a₃₁、a₃₂和a₃₃分別為所述透視變換矩陣的元素。

4.根據權利要求3所述的物體檢測方法，其特征在于，在所述根據所述透視變換等式求解所述透視變換矩陣的步驟之后，還包括以下步驟：

根據獲取使得ε值最小的透視變換矩陣，其中，i為所述待測物體上與所述模板上相同位置的序號，x_i和y_i分別為第i個第一特征點的橫坐標和縱坐標，u_i和v_i分別為第i個第二特征點的橫坐標和縱坐標，a₁₁、a₁₂、a₁₃、a₂₁、a₂₂、a₂₃、a₃₁、a₃₂和a₃₃分別為所述透視變換矩陣的元素。

5.根據權利要求1所述的物體檢測方法，其特征在于，所述根據所述變換矩陣將所述待測物體圖像轉換為待對比圖像的步驟，包括以下步驟：

根據所述透視變換矩陣，將所述待測物體圖像中像素點的坐標轉換至所述待對比圖像中像素點的坐標；

根據所述待測物體圖像中像素點的灰度值和所述待對比圖像中像素點的坐標，構建所述待對比圖像。

6.根據權利要求1所述的物體檢測方法，其特征在于，所述獲取待測物體圖像的第一特征點和模板圖像的第二特征點的步驟，包括以下步驟：

根據所述待測物體圖像獲取第一角點，根據所述模板圖像獲取第二角點；

匹配所述第一角點和所述第二角點，并獲取所述待測物體圖像的第一特征點和所述模板圖像的第二特征點。