[發明專利]一種快速鑒定熒光粉質量的方法

有效

• 申請號: 201810441853.7
• 申請日: 2018-05-10
• 公開（公告）號: CN108896517B
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 高春瑞;鄭劍飛;官小飛;鄭文財
• 申請（專利權）人: 廈門多彩光電子科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 廈門市精誠新創知識產權代理有限公司 35218
• 代理人: 黃國強

本發明提供一種快速鑒定熒光粉質量的方法，快速鑒定熒光粉質量的方法包括：待測熒光粉配置成熒光膠體并設置于測溫儀的感溫端上，所述藍光LED發光體與熒光膠體分離設置，所述凸透鏡設置于藍光LED發光體與熒光膠體之間，使得藍光LED發光體所發出的藍光通過凸透鏡聚焦于待測熒光粉上；檢測熒光膠體未被激發時的初始溫度T1以及待測熒光粉在一定激發時間的穩定溫度T2；T2與T1的差值即為該待測熒光粉的激發溫度；對比不同熒光粉的激發溫度，激發溫度高則表示該熒光粉的光衰較為嚴重。

技術領域

本發明涉及LED封裝領域，具體涉及一種能夠快速鑒定熒光粉質量的方法及裝置。

背景技術

熒光粉的質量與LED燈珠光參數的多少及使用壽命的長短息息相關，對于熒光膠內熒光粉的檢測目前有多種方法，如將熒光膠置于高溫高壓環境中一段時間后，測試熒光粉的光衰情況；其中將熒光膠封裝在燈珠內部進行長時間老化是目前現有方法中最為常規并廣泛運用的手段。

但由于以上方法所需要的檢驗周期較長，即老化一般為1000小時后再對熒光粉進行初步判斷，并且老化過程中，封裝膠水、支架等的老化帶來實驗誤差。再者，因周圍環境因素的影響，溫度越高，光衰越大，在常規實驗中，不同的放置位置或放置時間段的環境溫度均不同，且LED芯片產生的熱量對熒光粉及周圍環境溫度影響最大，所以對環境的恒溫控制較難，給研究人員帶來較大的實驗數據誤差。為減少以上誤差往往是多做幾組整燈，甚至多次驗證以達到實驗目的。以上問題給實驗人員帶來數據不準確，實驗周期長的缺點。

發明內容

為此，本發明根據熒光粉受激發自身產生溫度大小與光衰程度的關系，即熒光粉受激發自身產生溫度越大，光衰越嚴重。提供一種能夠快速鑒定熒光粉質量的方法及裝置，且檢測結果準確度高。

為實現上述目的，本發明提供的一種快速鑒定熒光粉質量的方法，包括如下步驟：

A1，提供暗腔、藍光LED發光體、凸透鏡及測溫儀，將藍光LED發光體、凸透鏡及測溫儀的感溫端設置于暗腔內，待測熒光粉配置成熒光膠體并設置于測溫儀的感溫端上，所述藍光LED發光體與熒光膠體分離設置，所述凸透鏡設置于藍光LED發光體與熒光膠體之間，使得藍光LED發光體所發出的藍光通過凸透鏡聚焦于待測熒光粉上；

A2，檢測熒光膠體未被激發時的初始溫度T1；

A3，控制藍光LED發光體發光，藍光LED發光體所發出的藍光通過凸透鏡聚焦于待測熒光粉上進行激發，測溫儀檢測待測熒光粉在一定激發時間的穩定溫度T2；

A4，求得穩定溫度T2與初始溫度T1的差值△T，該差值△T即為該待測熒光粉的激發溫度；

A5，取等量的不同熒光粉進行重復A1至A4步驟，取得等量的不同熒光粉的激發溫度并進行比較，激發溫度較高的熒光粉的光衰即較為嚴重。

進一步的，所述暗腔為橢球腔體，所述藍光LED發光體和熒光膠體分別設置于該橢球腔體的二焦點位置；所述暗腔的內壁設有反光層。

進一步的，在步驟A1和步驟A2之間，還包括步驟A1-2：對暗腔進行抽真空處理。

再進一步的，在步驟A3和步驟A4之間，還包括步驟A3-4：對暗腔進行充氣冷卻至室溫，重復步驟A1-2至步驟A3，取得多組初始溫度T1和穩定溫度T2；步驟A4的具體為：求得穩定溫度T2的平均溫度與初始溫度T1的平均溫度的差值△T，該差值△T即為該待測熒光粉的激發溫度。

進一步的，還包括散熱機構，所述散熱機構將藍光LED發光體產生的熱量傳導至暗腔外。