[發(fā)明專利]RF測試模塊及含有該RF測試模塊的測試設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810438446.0 | 申請日： | 2018-05-09 |
| 公開（公告）號： | CN108809448A | 公開（公告）日： | 2018-11-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張建平;張翔峰 | 申請（專利權(quán)）人： | 中山市博測達(dá)電子科技有限公司 |
| 主分類號： | H04B17/15 | 分類號： | H04B17/15;H04B17/29;G01D21/02;G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京盛凡智榮知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11616 | 代理人： | 劉曉暉 |
| 地址： | 528400 廣東省中山*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 波形整形電路模塊 測試設(shè)備 電連接 微處理器 異步串行接口 放大模塊 檢波器 復(fù)雜可編程邏輯器件 安防傳感器 機電連接 外部天線 預(yù)分頻器 外部 天線 應(yīng)用 | ||
1.一種RF測試模塊，其特征在于：它包括依次電連接的RF放大模塊(1)、預(yù)分頻器(2)、第一波形整形電路模塊(3)、復(fù)雜可編程邏輯器件(4)、微處理器(5)和異步串行接口(6)，所述RF放大模塊(1)與外部的天線(7)電連接，所述異步串行接口(6)與外部的上位機(8)電連接，所述RF測試模塊還包括RMS檢波器(9)和第二波形整形電路模塊(10)，所述RMS檢波器(9)均與外部天線(7)、所述第二波形整形電路模塊(10)和所述微處理器(5)電連接，所述第二波形整形電路模塊(10)與所述微處理器(5)電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的RF測試模塊，其特征在于：所述微處理器(5)包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器(51)、計時器(52)、SPI通訊接口模塊(53)、計數(shù)器(54)、計算功率模塊(55)、解碼器(56)和計算頻率模塊(57)，所述SPI通訊接口模塊(53)和所述計數(shù)器(54)均與所述復(fù)雜可編程邏輯器件(4)電連接，所述SPI通訊接口模塊(53)與所述解碼器(56)電連接，所述計數(shù)器(54)與所述計算頻率模塊(57)電連接，所述RMS檢波器(9)和所述計算功率模塊(55)均與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器(51)電連接，所述波形整形電路模塊和所述解碼器(56)均與所述計時器(52)電連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的RF測試模塊，其特征在于：RF放大模塊(1)包括兩個相互電連接的RF放大器(11)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的RF測試模塊，其特征在于：所述RF放大器(11)與所述預(yù)分頻器(2)之間還設(shè)置有所述阻抗匹配模塊(21) 。
5.一種含有權(quán)利要求1-4任一項所述的RF測試模塊的測試設(shè)備，其特征在于：它包括機柜(12)和位于所述機柜(12)工作臺上的屏蔽箱(13)，所述機柜(12)內(nèi)設(shè)置有工控機和與所述工控機電連接的測試儀器，所述屏蔽箱(13)內(nèi)設(shè)置有測試夾具(14)和所述RF測試模塊，所述測試夾具(14)上設(shè)置有產(chǎn)品和與產(chǎn)品相連接的測試針(15)，測試時，所述測試夾具(14)下壓，使所述測試針(15)與所述RF測試模塊相連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的RF測試模塊的測試設(shè)備，其特征在于：所述屏蔽箱(13)包括箱體(131)和與所述箱體(131)相鉸接的箱蓋(132)，所述箱體(131)的兩端均設(shè)置有與所述箱蓋(132)相連接的驅(qū)動氣缸(133)，所述箱體(131)的內(nèi)部頂端四周和底部均設(shè)置有吸波棉(134)，所述箱體(131)上還設(shè)置有急停開關(guān)(135)和若干個指示按鈕(136)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的RF測試模塊的測試設(shè)備，其特征在于：所述測試夾具(14)包括底板(141)、載板(142)、頂板(143)和側(cè)立板(144)，所述側(cè)立板(144)位于所述底板(141)的上端，所述載板(142)位于所述底板(141)的上方，所述頂板(143)位于所述載板(142)的上方，所述底板(141)與所述載板(142)之間和所述底板(141)與所述頂板(143)之間均設(shè)置有導(dǎo)向柱(145)，所述側(cè)立板(144)與所述頂板(143)之間設(shè)置有螺紋調(diào)節(jié)固定桿(146)，所述底板(141)和所述載板(142)之間及所述頂板(143)上均設(shè)置有測試針(15)和定位針(147)，所述底板(141)和所述載板(142)之間還設(shè)置有高頻探針和光敏電阻，所述頂板(143)上還設(shè)置有開關(guān)針。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的RF測試模塊的測試設(shè)備，其特征在于：所述測試針(15)為探針，所述底板(141)和所述載板(142)之間的探針在下移時與所述RF測試模塊電連接。
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