[發明專利]一種周向非對稱缺陷的渦流檢測磁場的半解析計算方法有效
| 申請號： | 201810436683.3 | 申請日： | 2018-05-09 |
| 公開（公告）號： | CN108629127B | 公開（公告）日： | 2020-06-09 |
| 發明（設計）人： | 于亞婷;高寬厚;李翰超;劉博文;成家樂 | 申請（專利權）人： | 電子科技大學 |
| 主分類號： | G06F30/33 | 分類號： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 成都虹盛匯泉專利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王偉 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 對稱 缺陷 渦流 檢測 磁場 解析 計算方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種周向非對稱缺陷的渦流檢測磁場的半解析計算方法，其特征在于，包括：
首先，將周向非對稱缺陷在不同的周向角度沿豎直方向劃分，得到若干豎直方向的求解區域邊界面，每一豎直方向求解區域邊界面到缺陷中心的距離作為該豎直方向求解區域的缺陷半徑，將各豎直方向求解區域沿水平方向劃分為五個水平方向求解區域；
然后，采用圓柱形缺陷模型計算方法對每個豎直方向求解區域劃分出的五個水平方向求解區域進行求解，得到每個豎直方向求解區域各自對應的磁矢量勢；根據每個豎直方向求解區域的磁矢量勢計算各自對應的磁場信號；
最后，將各個豎直方向求解區域對應的磁場信號組成一組磁場信號序列，根據這組磁場信號序列得到表示周向非對稱模型的磁場信號的經驗公式；
所述五個水平方向求解區域具體為：1區為圓柱線圈上表面以上的區域，2區為試件上表面和圓柱線圈下表面之間的區域，3區為缺陷下表面和試件上表面之間的區域，4區為缺陷下表面和試件下表面之間的區域，5區為試件下表面以下的區域；
所述經驗公式為：
其中，n表示豎直方向求解區域的數量；B1,B2,B3,...Bn分別表示n個豎直方向求解區域各自對應的磁場信號，B表示磁場信號列向量；ξ1,ξ2,ξ3...ξn分別表示B1,B2,B3,...Bn各自對應的系數，ξ表示系數行向量。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于電子科技大學，未經電子科技大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810436683.3/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
