[發明專利]指紋構建算法的評估方法、裝置、存儲介質及終端

有效

• 申請號: 201810435801.9
• 申請日: 2018-05-09
• 公開（公告）號: CN108596271B
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發明（設計）人: 于洋;馬寧
• 申請（專利權）人: 中國平安人壽保險股份有限公司
• 主分類號: G06F18/2321
• 分類號: G06F18/2321
• 代理公司: 深圳眾鼎專利商標代理事務所(普通合伙) 44325
• 代理人: 譚果林

1.一種指紋構建算法的評估方法，其特征在于，所述評估方法包括：

獲取記錄樣本集，所述記錄樣本集中包括多個設備記錄樣本和多個偽造記錄樣本，每一個設備記錄樣本或偽造記錄樣本包括若干種設備特征對應的一個字段信息；

針對每一種設備特征，獲取所述記錄樣本集中該種設備特征對應的字段信息，對所述字段信息進行聚類分析；

獲取所述設備特征在聚類分析后得到的簇，遍歷每一個簇，獲取該簇中的每一個字段信息與所述簇的聚類中心之間的相似性度量值；若所述相似性度量值在相似性閾值范圍內時，在所述設備記錄樣本或偽造記錄樣本中保留該字段信息，并將預設的第一聚類標簽添加至所述字段信息；否則，將所述設備記錄樣本或偽造記錄樣本中的所述字段信息替換為聚類中心，并將預設的第二標聚類簽添加至替換后的字段信息中；

針對每一種設備特征，根據該種設備特征在聚類分析得到的簇的個數，計算該種設備特征對應的聚類誤差；

獲取所述聚類誤差中的最大值對應的設備特征，并從所述設備記錄樣本和偽造記錄樣本中剔除該設備特征對應的字段信息，得到過濾后的記錄樣本集；

根據所述過濾后的記錄樣本集進行聚類分析，得到至少一個組別的記錄樣本；

遍歷每一個組別，根據該組別內的記錄樣本生成對應的一個設備指紋；

根據所述設備記錄樣本的個數和指紋構建算法所生成的設備指紋的個數計算所述指紋構建算法的誤差；

若所述誤差小于或等于預設誤差閾值時，統計并輸出經過所述指紋構建算法后每一種設備特征對應的包括第一聚類標簽的字段信息個數和包括第二聚類標簽的字段信息個數。

2.如權利要求1所述的指紋構建算法的評估方法，其特征在于，所述指紋構建算法的誤差計算公式為：

E＝abs(N-M)/M

在上式中，E表示指紋構建算法的誤差，abs()表示絕對值運算，M表示設備記錄樣本的個數，N表示所述指紋構建算法所生成的設備指紋的個數。

3.如權利要求1所述的指紋構建算法的評估方法，其特征在于，所述聚類誤差的計算公式為：

e_i＝abs(N_i-M)

在上式中，e_i表示第i種設備特征的聚類誤差，abs()表示絕對值運算，N_i表示第i種設備特征在聚類分析后得到的簇的個數，M表示設備記錄樣本的個數。

4.如權利要求1所述的指紋構建算法的評估方法，其特征在于，所述評估方法還包括：

若所述誤差大于預設誤差閾值時，從過濾后的記錄樣本集中獲取聚類誤差最大值對應的設備特征；

從所述過濾后的記錄樣本集中的設備記錄樣本和偽造記錄樣本中剔除該設備特征對應的字段信息，得到再次過濾后的記錄樣本集；

根據所述再次過濾后的記錄樣本集進行聚類分析，生成設備指紋，以執行下一次誤差評估。

5.如權利要求1所述的指紋構建算法的評估方法，其特征在于，所述獲取記錄樣本集包括：

獲取預設的多個設備記錄樣本；

基于預設模擬器對所述多個設備記錄樣本進行改動，得到多個偽造記錄樣本。