[發明專利]一種應用單顆粒氣溶膠質譜儀進行顆粒物源解析的方法在審
| 申請號： | 201810435064.2 | 申請日： | 2018-05-09 |
| 公開（公告）號： | CN108680473A | 公開（公告）日： | 2018-10-19 |
| 發明（設計）人： | 馮銀廠;徐嬌;史國良;王瑋 | 申請（專利權）人： | 南開大學 |
| 主分類號： | G01N15/02 | 分類號： | G01N15/02;G01N15/06;G06K9/62 |
| 代理公司： | 天津耀達律師事務所 12223 | 代理人： | 張耀 |
| 地址： | 300071*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 顆粒物 解析 單顆粒氣溶膠 環境受體 單顆粒 排放源 質譜儀 粒徑 質譜 高時間分辨率 大氣顆粒物 解析結果 解析模型 精細化 分辨率 求解 應用 污染源 | ||
1.一種應用單顆粒氣溶膠質譜儀進行顆粒物源解析的方法，其特征在于所述方法包括：
第1步、構建污染源單顆粒質譜綜合譜庫；
第2步、找到某環境受體單顆粒X所屬污染源范圍P；
第3步、進一步分析環境受體單顆粒X所屬污染源P中的特征Pi；
第4步、求解Pi和二次源對環境受體單顆粒X的貢獻值。
2.如權利要求1所述的應用單顆粒氣溶膠質譜儀進行顆粒物源解析的方法，其特征在于：所述的污染源單顆粒質譜綜合譜庫，是指通過用單顆粒氣溶膠質譜儀采集而獲得大量污染源單顆粒質譜數據，并利用kmeans聚類算法提取各源類的特征質譜，它們共同構成污染源單顆粒質譜綜合譜庫。數據包括m/z-1～-250和m/z 1～250上的峰面積值。
3.如權利要求1中所述的應用單顆粒氣溶膠質譜儀進行顆粒物源解析的方法，其特征在于：所述的找到某環境受體單顆粒X所屬污染源范圍P，是使用KNN分類器對環境受體X的所屬源類P進行預測，需要輸入的數據包括污染源單顆粒質譜綜合譜庫和環境受體X的質譜圖。
4.如權利要求1中所述的應用單顆粒氣溶膠質譜儀進行顆粒物源解析的方法，其特征在于：所述的進一步分析環境受體X所屬污染源P中的特征Pi，是使用KNN分類器對環境受體在源類P中預測所屬特征Pi，需要輸入的數據包括單顆粒質譜綜合譜庫和環境受體X的質譜圖。
5.如權利要求1中所述的應用單顆粒氣溶膠質譜儀進行顆粒物源解析的方法，其特征在于：所述的求解Pi和二次源對X的貢獻值，是使用CMB模型求解Pi和二次硫酸源和二次硝酸源對X的貢獻值。
6.如權利要求1中所述的應用單顆粒氣溶膠質譜儀進行顆粒物源解析的方法，其特征在于：所述的環境受體單顆粒X，其特征在于是用單顆粒氣溶膠質譜儀監測環境受體顆粒物所獲得的一個顆粒物的單顆粒質譜數據，并同時獲得該顆粒的粒徑數據。
7.如權利要求2中所述的應用單顆粒氣溶膠質譜儀進行顆粒物源解析的方法，其特征在于：所述的單顆粒氣溶膠質譜儀為SPAMS或ATOFMS質譜儀。
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