[發明專利]m序列生成方法、裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 201810434254.2
• 申請日: 2018-05-08
• 公開（公告）號: CN110457008B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 程覺
• 申請（專利權）人: 北京小米松果電子有限公司
• 主分類號: G06F7/78
• 分類號: G06F7/78
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 魏嘉熹;南毅寧

1.一種m序列生成方法，其特征在于，包括：

確定多級移位寄存器的反饋系數中包括的N個非零反饋系數的位置；

分別按照每個非零反饋系數的位置對應的數值，對寄存器狀態變量進行N次移位；

將進行N次移位后的N個變量值進行異或運算；

令所述多級移位寄存器級數為r，所述N個非零反饋系數的位置從低位到高位分別對應的數值為a0，a1，……，am，其中mr,a0＝0,所述寄存器狀態變量分別進行N次移位得到的N個變量值為R_a0，R_a1，……，R_am，令變量值R_y＝R_a0^R_a1^…^R_am，其中，^為異或操作，將變量值R_y由低到高的r-am位比特的值作為生成的m序列的值；

根據生成的m序列，對所述寄存器狀態變量進行更新。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，令所述寄存器狀態變量為變量R，根據生成的m序列，對所述寄存器狀態變量進行更新，包括：

確定數值r-am為一次能夠輸出的m序列的比特數；

將所述變量R右移r-am位；

將生成的r-am位比特補充到所述變量R的高位，以更新所述寄存器狀態變量；

在更新所述寄存器狀態變量之后，再次執行所述分別按照每個非零反饋系數的位置對應的數值，對寄存器狀態變量進行N次移位、所述將進行N次移位后的N個變量值進行異或運算、及根據異或運算的結果，產生m序列的步驟。

3.根據權利要求1-2任一所述的方法，其特征在于，將進行N次移位后的N個變量值進行異或運算，包括：

針對每個非零反饋系數的位置對應的數值，在將所述寄存器狀態變量向右移動該數值對應的位數后，將移動后的高位補入相應位數的數值0；

將高位補入數值0后的N個變量值進行異或運算。

4.根據權利要求1-2任一所述的方法，其特征在于，將進行N次移位后的N個變量值進行異或運算，包括：

通過計算機的標量處理器對所述N個變量值進行異或運算。

5.一種m序列生成裝置，其特征在于，包括：

確定模塊，用于確定多級移位寄存器的反饋系數中包括的N個非零反饋系數的位置；

移位模塊，用于分別按照每個非零反饋系數的位置對應的數值，對寄存器狀態變量進行N次移位；

異或運算模塊，用于將進行N次移位后的N個變量值進行異或運算；

m序列生成模塊，用于令所述多級移位寄存器級數為r，所述N個非零反饋系數的位置從低位到高位分別對應的數值為a0，a1，……，am，其中mr,a0＝0,所述寄存器狀態變量分別進行N次移位得到的N個變量值為R_a0，R_a1，……，R_am，令變量值R_y＝R_a0^R_a1^…^R_am，其中，^為異或操作，將變量值R_y由低到高的r-am位比特的值作為生成的m序列的值；

寄存器變量更新模塊，用于根據生成的m序列，對所述寄存器狀態變量進行更新。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，令所述寄存器狀態變量為變量R，所述寄存器變量更新模塊用于：

確定數值r-am為一次能夠輸出的m序列的比特數；

將所述變量R右移r-am位；

將生成的r-am位比特補充到所述變量R的高位，以更新所述寄存器狀態變量；

在更新所述寄存器狀態變量之后，由所述移位模塊再次執行分別按照每個非零反饋系數的位置對應的數值，對寄存器狀態變量進行N次移位的步驟、由所述異或運算模塊再次執行將進行N次移位后的N個變量值進行異或運算的步驟，以及由所述m序列生成模塊再次執行根據異或運算的結果，產生m序列的步驟。