[發明專利]TFT基板的制作方法在審
| 申請號: | 201810433816.1 | 申請日: | 2018-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN108682654A | 公開(公告)日: | 2018-10-19 |
| 發明(設計)人: | 劉司洋 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/84 | 分類號: | H01L21/84;H01L27/12 |
| 代理公司: | 深圳市德力知識產權代理事務所 44265 | 代理人: | 林才桂;程曉 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 金屬線 光阻圖案層 減小 制程 干法蝕刻 光罩 狹縫 制作 第二金屬層 金屬線圖案 尺寸損失 厚度減小 濕法蝕刻 制程條件 底邊緣 損失量 圖案層 外緣處 偏移 疊加 殘留 | ||
1.一種TFT基板的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟S1、提供一襯底基板(10),在所述襯底基板(10)上沉積并圖案化形成第一金屬線(11),在所述第一金屬線(11)與襯底基板(10)上沉積形成間隔層(15);
步驟S2、在所述間隔層(15)上沉積第二金屬層(20),在所述第二金屬層(20)上涂覆光阻層(80),提供第二光罩(90),所述第二光罩(90)具有第二金屬線圖案(95),所述第二金屬線圖案(95)兩側外緣處設有狹縫(96),利用所述第二光罩(90)對所述光阻層(80)進行曝光、顯影,得到對應位于所述第一金屬線(11)上方的光阻圖案層(85),所述光阻圖案層(85)的兩側對應所述狹縫(96)形成凹槽(86),且光阻圖案層(85)兩側的厚度相對于中部的厚度減小;
步驟S3、以所述光阻圖案層(85)為遮蔽層,對所述第二金屬層(20)進行進行第一次濕法蝕刻;
步驟S4、對所述光阻圖案層(85)進行干法蝕刻,減薄所述光阻圖案層(85);
步驟S5、以減薄后的光阻圖案層(85)為遮蔽層,對所述第二金屬層(20)進行進行第二次濕法蝕刻,去除光阻圖案層(85),得到對應位于所述第一金屬線(11)上方的第二金屬線(21)。
2.如權利要求1所述TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第二金屬線圖案(95)每側外緣處設有兩條平行間隔的狹縫(96),所述第二金屬線圖案(95)包括遮光主線(951)以及在所述遮光主線(951)兩側由內向外依次設置的且與所述遮光主線(951)相平行的內遮光副線(952)和外遮光副線(953);
所述狹縫(96)包括第一透光狹縫(961)和第二透光狹縫(962),所述內遮光副線(952)與遮光主線(951)之間構成所述第一透光狹縫(961),所述內遮光副線(952)與外遮光副線(953)之間構成所述第二透光狹縫(962)。
3.如權利要求2所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一透光狹縫(961)、內遮光副線(952)、第二透光狹縫(962)及外遮光副線(953)的寬度分別為a、b、c、d,其中,0.5μm≤a≤1.5μm,0.5μm≤b≤1.5μm,0.5μm≤c≤1.5μm,0.5μm≤d≤1.5μm。
4.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第二金屬線圖案(95)的寬度為L2,L2≤7μm。
5.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步驟S1還包括提供第一光罩(40),所述第一金屬線(11)通過所述第一光罩(40)制作形成,所述第一光罩(40)具有用于對應形成第一金屬線(11)的第一金屬線圖案(41)。
6.如權利要求5所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一金屬線圖案(41)的寬度為L1,L1≤9μm。
7.如權利要求5所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一金屬線圖案(41)的寬度為L1,所述第二金屬線圖案(95)的寬度為L2,L1-L2≤2μm。
8.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步驟S2中所提供的第二光罩(90),其上的狹縫(96)通過在第二光罩(90)上挖空相應部分而形成。
9.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一金屬線(11)和第二金屬線(21)的材料均為鉬、鋁、銅、鈦中的一種或多種的合金。
10.如權利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述間隔層(15)為氧化硅層、氮化硅層或兩者的組合。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市華星光電技術有限公司,未經深圳市華星光電技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810433816.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:金屬柵極的制造方法
- 下一篇:一種寬禁帶半導體碳化硅功率模塊高溫封裝方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





