[發明專利]具有測試電路的圖像傳感器有效
| 申請號: | 201810431062.6 | 申請日: | 2018-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN108881751B | 公開(公告)日: | 2021-04-23 |
| 發明(設計)人: | 金允洪;李赫鐘;蔡熙成 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | H04N5/369 | 分類號: | H04N5/369;H04N5/378 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 張帆;趙南 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 測試 電路 圖像傳感器 | ||
本申請提供了一種圖像傳感器,包括:像素陣列,其包括多個像素;模數轉換器,其具有用于將模擬信號轉換為數字信號的第一計數器;以及輸出緩沖器,其具有第一存儲器。在測試模式下,作為針對第一計數器的測試結果產生的第一計數器測試結果值存儲在第一存儲器中。輸出緩沖器響應于第一選擇信號將第一計數器測試結果值從第一存儲器輸出至輸出緩沖器外部。輸出緩沖器還包括復位邏輯電路,其根據第一計數器測試結果值是否被輸出來將第一存儲器復位。所述多個像素響應于入射光產生模擬信號。
相關申請的交叉引用
本申請要求于2017年5月8日在韓國知識產權局提交的韓國專利申請No.10-2017-0057372的優先權,該申請的公開以引用方式全文并入本文中。
技術領域
本文提供的發明構思涉及一種圖像傳感器,并且更具體地說,涉及一種具有用于控制用于模數轉換的計數器的測試操作的測試電路的圖像傳感器。
背景技術
圖像傳感器包括用于將作為模擬信號檢測的圖像信號轉換為數字信號的模數轉換器(ADC)。圖像傳感器的像素陣列包括按照2D矩陣排列的多個像素,并且所述像素中的每一個根據光能輸出圖像信號。所述像素中的每一個集成與通過光電二極管入射的光的量相對應的光電荷,并且根據集成的光電荷輸出模擬信號的像素信號。像素信號通過ADC轉換為數字信號。
ADC包括用于將對應于各列像素陣列的圖像信號與斜坡信號進行比較的比較器和用于根據比較器的比較結果執行計數操作以產生計數結果值或計數碼的計數器。響應于列解碼器的列選擇信號輸出計數器的計數碼作為數字信號的像素信號,并且所述計數碼最終作為圖像數據輸出至輸出緩沖器的外部。為了實現清晰圖像數據,檢測列解碼器、計數器和時序控制器中的錯誤是重要的。
發明內容
本文提供的發明構思提供了一種當在圖像傳感器上執行測試時能夠檢測計數器、列解碼器和時序控制器中的錯誤的圖像傳感器。
根據本文提供的發明構思的一方面,提供了一種圖像傳感器,該圖像傳感器包括:像素陣列,其包括多個像素;模數轉換器,其具有用于將模擬信號轉換為數字信號的第一計數器;以及輸出緩沖器,其具有第一存儲器。在測試模式下,作為針對第一計數器的測試結果產生的第一計數器測試結果值存儲在第一存儲器中。輸出緩沖器響應于第一選擇信號將第一計數器測試結果值從第一存儲器輸出至輸出緩沖器外部。輸出緩沖器還包括復位邏輯電路,其根據第一計數器測試結果值是否被輸出來將第一存儲器復位。所述多個像素響應于入射光產生模擬信號。
根據本文提供的發明構思的另一方面,提供了一種圖像傳感器,該圖像傳感器包括:包括多個像素的像素陣列;模數轉換器,其構造為使用至少一個計數器,以將從所述像素產生的模擬信號轉換為數字信號;輸出緩沖器,其構造為對應于像素陣列的多列中的每一個;以及測試電路,其構造為控制針對計數器的測試操作。輸出緩沖器接收列選擇信號并且響應于列選擇信號輸出存儲在對應于列選擇信號的列存儲器中的計數器測試結果,并且隨后將對應于列選擇信號的列存儲器復位。所述輸出緩沖器具有被構造為存儲利用計數器的計數器測試結果值的多個列存儲器。
附圖說明
從下面結合附圖的詳細描述中,將更加清楚地理解本文提供的發明構思的示例實施例,其中:
圖1是根據本文提供的發明構思的示例實施例的圖像傳感器的框圖;
圖2是圖1中的模數轉換器(ADC)、輸出緩沖器和測試電路的框圖;
圖3是根據本文提供的發明構思的示例實施例的圖2的ADC的操作的時序圖;
圖4A和圖4B是根據本文提供的發明構思的示例實施例的對計數器單元進行測試的方法的框圖;
圖5是根據本文提供的發明構思的示例實施例的復位邏輯電路的操作的框圖;
圖6A至圖6C是用于解釋利用圖5的復位邏輯電路檢測列解碼器中的錯誤的方法的時序圖;
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