[發明專利]可掃描電路元件和選擇可掃描電路元件的掃描模式的方法

在審

• 申請號: 201810430742.6
• 申請日: 2018-05-08
• 公開（公告）號: CN108957302A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 馬修·貝爾津什
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185;G01R31/28
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 陳曉博;尹淑梅

提供了一種可掃描電路元件和一種選擇可掃描電路元件的掃描模式的方法。所述可掃描電路元件包括分別響應于第一操作模式和第二操作模式而被選擇的數據路徑和掃描?數據路徑。所述掃描?數據路徑包括輸入元件，所述輸入元件具有輸入節點、輸出節點、第一電力節點和第二電力節點。位于輸入節點與輸出節點之間的信號路徑是掃描?數據路徑的一部分。第一電力節點結合到第一電壓電位，第二電力節點結合到模式控制信號，所述模式控制信號在第一操作模式下基本處于第一電壓電位并且在第二操作模式下基本處于第二電壓電位。在第二操作模式下，所述可掃描電路元件表現為沒有切換電流并且沒有漏電流。

本申請要求于2017年5月25日提交的第62/511,318號美國臨時專利申請和2017年7月28日提交的第15/663,580號美國專利申請的優先權益，所述專利申請通過引用全部包含于此。

技術領域

這里公開的主題涉及可掃描電路。更具體地，這里公開的主題涉及用于減小可掃描電路的功耗和漏電流的一種系統和方法。

背景技術

掃描鏈測試是一種可測試性設計(DFT)技術，DFT技術將硬件組件嵌入集成電路(IC)設計中以檢測IC中的制造故障。DFT組件的可測試性特征可以被配置為能夠在可掃描模式(即，測試模式)下操作的時序邏輯路徑內的時序元件(例如，觸發器、鎖存器等)。這樣的DFT組件與IC的正常(非測試模式)操作無關，并且在IC的正常操作期間由于切換電流和/或漏電流而會浪費電力。

發明內容

實施例提供了一種可掃描電路元件，所述可掃描電路元件可以包括數據路徑和掃描-數據路徑。數據路徑可以響應于第一操作模式而被選擇。掃描-數據路徑可以響應于第二操作模式而被選擇，第二操作模式與第一操作模式互補。掃描-數據路徑可以包括輸入元件，輸入元件可以具有輸入節點、輸出節點、第一電力節點和第二電力節點。位于輸入元件的輸入節點與輸出節點之間的信號路徑可以是掃描-數據路徑的一部分。第一電力節點可以結合到第一電壓電位，第二電力節點可以結合到模式控制信號，模式控制信號在第一操作模式下基本處于第一電壓電位并且在第二操作模式下基本處于第二電壓電位。第二電壓電位可以不同于第一電壓電位，第二電壓電位可以對應于公共地電位。在第一操作模式下基本沒有電流在輸入元件中的第一電力節點與第二電力節點之間流動，在第二操作模式下電源電流在輸入元件中的第一電力節點與第二電力節點之間流動。輸入元件可以包括緩沖器、反相器、邏輯門或多路復用器。

實施例提供了一種可掃描電路元件，所述可掃描電路元件可以包括邏輯存儲元件、數據路徑和掃描-數據路徑。邏輯存儲元件可以包括輸入。數據路徑可以結合到邏輯存儲元件的輸入。數據路徑可以響應于第一操作模式而被選擇。掃描-數據路徑可以結合到邏輯存儲元件的輸入。掃描-數據路徑可以響應于第二操作模式而被選擇，第二操作模式與第一操作模式互補。掃描-數據路徑可以包括輸入元件，輸入元件可以具有輸入節點、輸出節點、第一電力節點和第二電力節點。位于輸入元件的輸入節點與輸出節點之間的信號路徑可以是掃描-數據路徑的一部分。第一電力節點可以結合到第一電壓電位，第二電力節點可以結合到模式控制信號，模式控制信號在第一操作模式下基本處于第一電壓電位并且在第二操作模式下基本處于第二電壓電位。第二電壓電位可以不同于第一電壓電位，第二電壓電位可以對應于公共地電位。在第一操作模式下基本沒有電流在輸入元件中的第一電力節點與第二電力節點之間流動，在第二操作模式下電源電流在輸入元件中的第一電力節點與第二電力節點之間流動。