[發(fā)明專利]一種雙光束磁光譜儀在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810429087.2 | 申請日： | 2018-04-24 |
| 公開（公告）號： | CN108387855A | 公開（公告）日： | 2018-08-10 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張向平;方曉華;陳興威 | 申請（專利權(quán)）人： | 金華職業(yè)技術(shù)學(xué)院 |
| 主分類號： | G01R33/12 | 分類號： | G01R33/12;G01Q60/24 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 321017 *** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 通孔 凸透鏡 探測器 探針 光譜儀 效應(yīng)信號 圓臺軸線 激光器 激光束 偏振片 雙光束 棱鏡 物理測量技術(shù) 原子力顯微鏡 透鏡 探測器記錄 信號發(fā)生器 垂直入射 反射光強(qiáng) 改變裝置 分束器 示波器 樣品臺 磁光 次磁 兩組 入射 反射 測量 計(jì)算機(jī) 分析 | ||
1.一種雙光束磁光譜儀，主要包括計(jì)算機(jī)、激光器I、偏振片I、激光器II、偏振片II、凸透鏡I、分束器、凸透鏡II、透鏡臺、原子力顯微鏡、探針、樣品、樣品臺、磁體、信號發(fā)生器、示波器、凸透鏡III、沃拉斯頓棱鏡I、探測器I、探測器II、沃拉斯頓棱鏡II、探測器III、探測器IV，xyz為空間直角坐標(biāo)系、xy平面為水平面、zx平面與水平面垂直，探針位于原子力顯微鏡下端，樣品位于樣品臺上，所述樣品、樣品臺、磁體依次位于探針下方，所述探針為原子力顯微鏡探針且為圓臺形狀，所述圓臺的上底面直徑為3微米、下底面直徑為1.5微米，所述圓臺軸線方向與水平面垂直，所述透鏡臺透光，
其特征是：所述探針中在zx平面內(nèi)具有通孔I、通孔II和通孔III，所述通孔II的軸線沿所述圓臺軸線方向，所述通孔I和通孔III的軸線分別位于所述通孔II軸線的兩側(cè)、且均與所述通孔II軸線成45度角；激光器I發(fā)出激光束I，所述激光束I能夠依次經(jīng)偏振片I、凸透鏡I、透鏡臺、原子力顯微鏡、通孔I，并照射到樣品上，從樣品反射的光能夠依次經(jīng)通孔III、原子力顯微鏡、透鏡臺、凸透鏡III、沃拉斯頓棱鏡I，然后分成兩束正交的偏正光并分別進(jìn)入探測器I和探測器II，探測器I和探測器II均電纜連接計(jì)算機(jī)，信號發(fā)生器和示波器分別電纜連接磁體；激光器II發(fā)出激光束II，所述激光束II能夠依次經(jīng)偏振片II、分束器、凸透鏡II、透鏡臺、原子力顯微鏡、通孔II，并照射到樣品上，從樣品反射的光能夠依次經(jīng)通孔II、原子力顯微鏡、透鏡臺、凸透鏡III、沃拉斯頓棱鏡II，然后分成兩束正交的偏振光并分別進(jìn)入探測器III和探測器IV，探測器III和探測器IV均電纜連接計(jì)算機(jī)，樣品臺能夠三維移動并能夠在xy平面內(nèi)繞其中心軸旋轉(zhuǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙光束磁光譜儀，其特征是：所述探針中的通孔I、通孔II和通孔III的直徑均為200納米。
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