[發明專利]一種亞像素邊緣檢測方法在審
| 申請號： | 201810428425.0 | 申請日： | 2018-05-07 |
| 公開（公告）號： | CN108648205A | 公開（公告）日： | 2018-10-12 |
| 發明（設計）人： | 彭紹湖;蘇偉強;劉長紅;胡曉 | 申請（專利權）人： | 廣州大學 |
| 主分類號： | G06T7/13 | 分類號： | G06T7/13 |
| 代理公司： | 北京市盈科律師事務所 11344 | 代理人： | 江錦利 |
| 地址： | 510000 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 亞像素邊緣檢測 邊緣點 原始灰度圖像 復雜邊緣 像素級 亞像素 定位能力 亞像素級 插值法 鄰域 索引 檢測 | ||
1.一種亞像素邊緣檢測方法，其特征在于，包括：
獲取原始灰度圖像，并獲取所述原始灰度圖像的像素級粗邊緣；
索引到所述像素級粗邊緣的邊緣點，并沿著梯度方向采用插值法擴展邊緣；
對擴展后的邊緣點進行亞像素檢測，獲得邊緣的亞像素位置。
2.根據權利要求1所述的亞像素邊緣檢測方法，其特征在于，采用Canny邊緣檢測方法獲取所述原始灰度圖像的像素級粗邊緣。
3.根據權利要求1所述的亞像素邊緣檢測方法，其特征在于，沿著梯度方向采用插值法擴展邊緣，包括：
定位到邊緣點N×N像素鄰域，其中N為大于或等于1的整數；
計算所述像素鄰域中心邊緣點的梯度方向，并采用雙線性插值法沿著邊緣點的梯度方向對所述像素鄰域進行插值。
4.根據權利要求3所述的亞像素邊緣檢測方法，其特征在于，所述邊緣點的梯度方向為Soble算子檢測的梯度向量的方向；雙向性插值的方向為水平方向和垂直方向的矢量和。
5.根據權利要求4所述的亞像素邊緣檢測方法，其特征在于，所述水平方向的矢量和垂直方向的矢量的比值為所述邊緣點梯度方向的正切值。
6.根據權利要求5所述的亞像素邊緣檢測方法，其特征在于，對擴展后的邊緣點進行亞像素檢測，獲得邊緣的亞像素位置，包括：
采用Zernike多項式模板計算擴展后的邊緣點的位置參數；
進行邊緣參數尺度的恢復。
7.根據權利要求6所述的亞像素邊緣檢測方法，其特征在于，所述Zernike多項式模板為計算圖像Zernike矩的圖像卷積模板，所述邊緣參數尺度的恢復為使用Zernike單位圓模板計算后的基于模板效應的參數尺度恢復。
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