[發(fā)明專利]電梯的點(diǎn)陣外召的監(jiān)控方法及監(jiān)控裝置

有效

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• 申請日: 2018-05-07
• 公開（公告）號: CN110451377B
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 聶益波;林穗賢;鄺庚廉;黃棣華;藍(lán)秀清;尹政;陳健豪
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州廣日電梯工業(yè)有限公司
• 主分類號: B66B5/02
• 分類號: B66B5/02
• 代理公司: 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283
• 代理人: 陳瀟瀟

本發(fā)明公開一種電梯的點(diǎn)陣外召的監(jiān)控方法，所述監(jiān)控方法包括：獲取所述點(diǎn)陣外召的初始電流輸出值；獲取所述點(diǎn)陣外召的采樣條件，并在所述采樣條件下采集所述點(diǎn)陣外召的實(shí)際電流輸出值；基于所述初始電流輸出值，判斷所述實(shí)際電流輸出值是否滿足預(yù)設(shè)輸出條件；在所述實(shí)際電流輸出值不滿足所述預(yù)設(shè)輸出條件的情況下，獲取所述點(diǎn)陣外召的壞點(diǎn)；判斷所述壞點(diǎn)是否位于所述點(diǎn)陣外召的損壞區(qū)域，并基于判斷結(jié)果生成對應(yīng)的監(jiān)控信息。本發(fā)明還公開一種電梯的點(diǎn)陣外召的監(jiān)控裝置。通過及時對電梯外召的LED點(diǎn)陣模塊進(jìn)行檢測，能夠在盡量保證電梯外召的正常使用的情況下，及時準(zhǔn)確地對電梯外召進(jìn)行監(jiān)控，提高監(jiān)控的精確性和有效性，降低企業(yè)的運(yùn)營成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電梯控制領(lǐng)域，具體地涉及一種電梯的點(diǎn)陣外召的監(jiān)控方法及監(jiān)控裝置。

背景技術(shù)

在現(xiàn)代社會的生活中，電梯作為一種普遍的樓層內(nèi)交通工具，為現(xiàn)代生活提供了更好的便利，使得人們能夠更好地在更高層的樓房中生活。電梯包含多種控制、承載、安全以及顯示零部件，共同組成了整個電梯的運(yùn)輸系統(tǒng)。

為了更好的對用戶進(jìn)行提示，提供更好的用戶體驗，電梯需要在每個樓層都設(shè)置外召以便于用戶查看當(dāng)前電梯運(yùn)行到哪個樓層、電梯的運(yùn)行方向以及電梯當(dāng)前的使用狀態(tài)等信息，由于電梯使用年限較長，并且由于技術(shù)發(fā)展以及產(chǎn)品成本等原因，目前大多數(shù)電梯依然采用LED(Light Emitting Diode，發(fā)光二極管)點(diǎn)陣模塊作為電梯的外召。

在實(shí)際使用過程中，由于LED點(diǎn)陣模塊是由多個LED顯示單元共同組成的，因為使用壽命、使用次數(shù)以及環(huán)境干擾等原因，LED點(diǎn)陣模塊中的某個或多個LED顯示單元可能因損壞而無法點(diǎn)亮，從而在LED點(diǎn)陣模塊中產(chǎn)生壞點(diǎn)，導(dǎo)致LED點(diǎn)陣模塊的顯示存在一定程度的缺點(diǎn)或暗點(diǎn)，影響LED點(diǎn)陣模塊的正常使用。

進(jìn)一步地，現(xiàn)有技術(shù)中往往是通過技術(shù)人員到現(xiàn)場進(jìn)行人工觀察以獲得LED點(diǎn)陣模塊的損壞情況，因此存在無法及時發(fā)現(xiàn)損壞或異常的問題，影響用戶的正常、安全使用，同時每次都讓技術(shù)人員到現(xiàn)場進(jìn)行觀察，也大大增加了人力成本，降低了企業(yè)的運(yùn)用效益，不利于企業(yè)的售后管理。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有技術(shù)中無法準(zhǔn)確及時地監(jiān)控電梯外召，以及監(jiān)控成本高的技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例提供一種電梯的點(diǎn)陣外召的監(jiān)控方法及監(jiān)控裝置，通過及時對電梯外召的LED點(diǎn)陣模塊進(jìn)行檢測，能夠在盡量保證電梯外召正常使用的情況下，及時準(zhǔn)確地對電梯外召進(jìn)行監(jiān)控，提高監(jiān)控的精確性和有效性，降低企業(yè)的運(yùn)營成本。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施例提供一種電梯的點(diǎn)陣外召的監(jiān)控方法，所述監(jiān)控方法包括：獲取所述點(diǎn)陣外召的初始電流輸出值；獲取所述點(diǎn)陣外召的采樣條件，并在所述采樣條件下采集所述點(diǎn)陣外召的實(shí)際電流輸出值；基于所述初始電流輸出值，判斷所述實(shí)際電流輸出值是否滿足預(yù)設(shè)輸出條件；在所述實(shí)際電流輸出值不滿足所述預(yù)設(shè)輸出條件的情況下，獲取所述點(diǎn)陣外召的壞點(diǎn)；判斷所述壞點(diǎn)是否位于所述點(diǎn)陣外召的損壞區(qū)域，并基于判斷結(jié)果生成對應(yīng)的監(jiān)控信息。

優(yōu)選地，所述點(diǎn)陣外召的初始電流輸出值為：所述點(diǎn)陣外召出廠時檢測的電流輸出值；或預(yù)設(shè)的初始電流輸出值。

優(yōu)選地，所述采樣條件包括采樣周期以及采樣時刻，所述在采樣條件下采集所述點(diǎn)陣外召的實(shí)際電流輸出值，包括：獲取前一次采樣的前次采樣時刻，并判斷當(dāng)前采樣時刻與所述前次采樣時刻的時間差是否達(dá)到所述采樣周期；在所述時間差達(dá)到所述采樣周期的情況下，判斷當(dāng)前時刻是否是采樣時刻；在當(dāng)前時刻是采樣時刻的情況下，驅(qū)動所述點(diǎn)陣外召處于全亮狀態(tài)，并采集所述點(diǎn)陣外召的實(shí)際電流輸出值。