[發明專利]一種單圈絕對編碼器抗干擾及噪聲的細分處理方法有效
| 申請號: | 201810425903.2 | 申請日: | 2018-05-07 |
| 公開(公告)號: | CN109029513B | 公開(公告)日: | 2019-11-12 |
| 發明(設計)人: | 袁鵬飛;雷仲魁;黃大慶 | 申請(專利權)人: | 南京航空航天大學;南京曉莊學院 |
| 主分類號: | G01D5/347 | 分類號: | G01D5/347 |
| 代理公司: | 南京經緯專利商標代理有限公司 32200 | 代理人: | 施昊 |
| 地址: | 210016 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 抗干擾 刻畫 單圈絕對編碼器 脈沖中心 組分配 權重 噪聲 矩陣 惡劣工況環境 電子經緯儀 噪聲污染 測角儀器 矩陣分解 絕對編碼 圖像數據 整體測量 質心算法 編碼盤 單碼道 抗噪聲 全站儀 構建 精密 觀測 | ||
1.一種單圈絕對編碼器抗干擾及噪聲的細分處理方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)CCD讀頭采集單圈絕對編碼盤上刻畫線組明暗條紋數據,并存入測量電路板中;
(2)根據選取的刻畫線組明暗條紋數據,采用質心法計算每條刻畫線中心位置信息,構建細分測量矩陣,并對該矩陣進行特征分解,求出各刻畫線組的細分權重;該步驟的具體過程如下:
以編碼盤物理中心點為原點O,檢測線為縱軸建立平面直角坐標系,以檢測線為中心往兩側各選取N個刻畫線組,設CCD線陣與坐標系縱軸有一交點A,同時選取的各刻線組的中心線與CCD線陣的交點為Ei和E-i,i=1,2,…,N,“i”和“-i”分別表示檢測線兩側的刻畫線;采用質心法,根據下式計算出Ei和E-i的橫坐標和
上式中,Pi為第i條刻畫線像元的采樣值,Gi為第i條刻畫線像元在CCD中的位置編號;
設M為編碼盤上的刻畫線條數,當N<<M時,∠E-iOEi的對角線與CCD線陣的交點ei的橫坐標由下式近似求出:
對任意第i個細分位置ei和第j個細分位置ej求解彼此的細分距離aij:
令sij=1-aij,0≤sij<1,由N×N個sij構建細分測量矩陣S:
因為矩陣S正定,所以一定存在一個最大模特證值|λ|max及其對應的特征向量ξ=(ζ1,...,ζN),使得:
|λ|maxξ=STξ
將上式展開,得:|λ|maxζi=ζ1s1i+ζ2s2i+...+ζNsNi,i=1,...,N,則細分權重αi:
(3)根據細分權重計算出細分值,具體過程如下:
根據細分權重αi計算細分位置E的橫坐標XE:
根據細分權重αi計算細分角θ:
上式中,XA為CCD線陣與坐標系縱軸交點A的橫坐標,η為刻畫線夾角,L為以像素為單位的刻畫線平均間距。
2.根據權利要求1所述單圈絕對編碼器抗干擾及噪聲的細分處理方法,其特征在于,由下式計算刻畫線夾角η、刻畫線平均間距φ以及以像素為單位的刻畫線平均間距L:
上式中,D為編碼盤刻畫線中徑,W為CCD像元寬度。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南京航空航天大學;南京曉莊學院,未經南京航空航天大學;南京曉莊學院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810425903.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種光纖光柵傳感器玻璃焊料封裝系統
- 下一篇:單碼道絕對式時柵角位移測量系統





