[發明專利]一種溫度控制器檢驗方法及檢驗系統

在審

• 申請號: 201810424138.2
• 申請日: 2018-05-07
• 公開（公告）號: CN108387329A
• 公開（公告）日: 2018-08-10
• 發明（設計）人: 夏越超;楊康;陳旭
• 申請（專利權）人: 天津瑞能電氣有限公司
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00;G05B23/02
• 代理公司: 天津濱海科緯知識產權代理有限公司 12211
• 代理人: 楊慧玲

1.一種溫度控制器檢驗方法，其特征在于：包括恒溫恒濕箱(1)、溫度控制器(2)、繼電器(3)、數據處理器(4)、PC機(5)和溫度傳感器(6)，

所述溫度控制器(2)與所述繼電器(3)串聯組成溫度測試電路，所述繼電器(3)和所述溫度傳感器(6)均信號連接至所述數據處理器(4)，所述數據處理器(4)信號連接至所述PC機(5)，其具體步驟如下：

步驟一：將所述溫度控制器(2)和所述溫度傳感器(6)均安裝在所述恒溫恒濕箱(1)內，并改變所述恒溫恒濕箱(2)內的溫度來模擬現場溫度變化；

步驟二：所述數據處理器(4)采集所述溫度傳感器(6)的數據，同時根據所述繼電器(3)反饋點的動作狀態判斷所述溫度控制器(2)的動作情況，并將數據處理后通過所述PC機(5)顯示；

步驟三：所述數據處理器(4)可對多組并聯的所述溫度測試電路進行采集。

2.一種溫度控制器檢驗系統，其特征在于：包括恒溫恒濕箱、斷路器、數據處理器、溫度傳感器、PC機和多組并聯的溫度測試電路，

溫度控制器S1的一端連接至端子排X1，另一端與繼電器K1的線圈串聯組成第一溫度測試電路后連接至端子排X2，溫度控制器S2與繼電器K2的線圈串聯后組成第二溫度測試電路，所述第二溫度測試電路與所述第一溫度測試電路并聯，所述端子排X2、所述端子排X1分別經斷路器Q1連接至電源的L極、N極，所述繼電器K1的常開觸點、所述繼電器K2的常開觸點分別連接至所述數據處理器U1的引腳1、引腳2、引腳3和引腳4，溫度傳感器B1、溫度傳感器B2分別連接至所述數據處理器U1的引腳A、引腳B、引腳C和引腳D，所述數據處理器U1將采集到的數據處理后通過所述PC機顯示，所述溫度控制器S1和所述溫度控制器S2均安裝在所述恒溫恒濕箱內。

3.根據權利要求2所述的一種溫度控制器檢驗系統，其特征在于：所述溫度控制器S1包括熱電偶和雙金屬片，所述熱電偶安裝在所述雙金屬片附近。

4.根據權利要求2所述的一種溫度控制器檢驗系統，其特征在于：所述數據處理器U1的CPU型號為XS128系列。

5.根據權利要求2所述的一種溫度控制器檢驗系統，其特征在于：所述溫度測試電路至少為2組。

6.根據權利要求2所述的一種溫度控制器檢驗系統，其特征在于：所述PC機為電腦。

7.根據權利要求2所述的一種溫度控制器檢驗系統，其特征在于：所述溫度傳感器S1為非接觸式溫度傳感器。