[發(fā)明專利]暗像素結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810418176.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108831897B | 公開(公告)日: | 2021-04-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋輝;錢俊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海華力集成電路制造有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146 |
| 代理公司: | 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 郭四華 |
| 地址: | 201315 上海市浦東新區(qū)中國(上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 像素 結(jié)構(gòu) | ||
本發(fā)明公開了一種暗像素結(jié)構(gòu)包括:感光區(qū),在感光區(qū)的正上方至少覆蓋有兩層金屬層;在各金屬層之間以及金屬層和感光區(qū)之間隔離有介質(zhì)層;金屬層覆蓋在感光區(qū)的正上方防止光線垂直照射到感光區(qū)中;在金屬層之間形成有帶狀通孔結(jié)構(gòu),帶狀通孔結(jié)構(gòu)的金屬防止光線從側(cè)面進(jìn)入到金屬層之間并在金屬層之間的介質(zhì)層中傳播并進(jìn)而進(jìn)入到感光區(qū)中。本發(fā)明能防止光從側(cè)面照入到感光區(qū),防止串?dāng)_。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體集成電路,特別是涉及一種暗像素結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
CMOS圖像傳感器(CMOS Image Sensor,CIS)由像素(Pixel)單元電路和CMOS電路構(gòu)成,相對(duì)于CCD圖像傳感器,CMOS圖像傳感器因?yàn)椴捎肅MOS標(biāo)準(zhǔn)制作工藝,因此具有更好的可集成度,可以與其他數(shù)模運(yùn)算和控制電路集成在同一塊芯片上,更適應(yīng)未來的發(fā)展。根據(jù)現(xiàn)有CMOS圖像傳感器的像素單元電路所含晶體管數(shù)目,其主要分為3T型結(jié)構(gòu)和4T型結(jié)構(gòu)。
像素單元通過感光二極管感光實(shí)現(xiàn)將光電信號(hào)之間的轉(zhuǎn)換。
在CMOS圖像傳感器中除了需要設(shè)置用于感光的像素單元之外,還需要設(shè)置不感光的像素單元即暗像素,暗像素用于檢測沒有光信號(hào)時(shí)的輸出信號(hào)即檢測像素單元的本底噪聲,這樣將感光的像素單元的輸出信號(hào)減去本底噪聲就能得到真實(shí)的輸出信號(hào),提高圖像質(zhì)量。
現(xiàn)有暗像素結(jié)構(gòu)僅是通過金屬層對(duì)感光區(qū)進(jìn)行正面覆蓋,通過金屬層對(duì)光的屏蔽來防止光垂直射入到感光區(qū)中。但是光線在介質(zhì)層中存在反射與折射現(xiàn)象,因此光線會(huì)在介質(zhì)層間傳導(dǎo),會(huì)有部分光線會(huì)從側(cè)面照入感光區(qū),形成串?dāng)_.
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種暗像素結(jié)構(gòu),能防止光從側(cè)面照入到感光區(qū),防止串?dāng)_。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供的暗像素結(jié)構(gòu)包括:
感光區(qū),在所述感光區(qū)的正上方至少覆蓋有兩層金屬層。
在各所述金屬層之間以及所述金屬層和所述感光區(qū)之間隔離有介質(zhì)層。
所述金屬層覆蓋在所述感光區(qū)的正上方防止光線垂直照射到所述感光區(qū)中。
在所述金屬層之間形成有帶狀通孔結(jié)構(gòu),所述帶狀通孔結(jié)構(gòu)的金屬防止光線從側(cè)面進(jìn)入到所述金屬層之間并在所述金屬層之間的介質(zhì)層中傳播并進(jìn)而進(jìn)入到所述感光區(qū)中。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,所述感光區(qū)形成于有源區(qū)中。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,所述金屬層的覆蓋的面積小于等于所述感光區(qū)的面積。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,所述帶狀通孔結(jié)構(gòu)在所述金屬層的邊緣內(nèi)側(cè)環(huán)繞成一個(gè)環(huán)狀結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,所述有源區(qū)由通過場氧隔離出來的半導(dǎo)體襯底組成。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,所述半導(dǎo)體襯底為硅襯底。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,所述介質(zhì)層的材料包括氧化硅或氮化硅。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,所述金屬層的材料包括Al或銅,所述帶狀通孔結(jié)構(gòu)中填充的金屬包括Al或銅。
本發(fā)明在感光區(qū)的正上方設(shè)置金屬層的基礎(chǔ)上,在金屬層之間還設(shè)置有帶狀通孔結(jié)構(gòu),帶狀通孔結(jié)構(gòu)的金屬能防止光線從側(cè)面進(jìn)入到金屬層之間并在金屬層之間的介質(zhì)層中傳播并進(jìn)而進(jìn)入到感光區(qū)中,所以,本發(fā)明能在金屬層防止光線垂直進(jìn)入到感光區(qū)的基礎(chǔ)上,還能防止光從側(cè)面照入到感光區(qū),從而能防止串?dāng)_。
附圖說明
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明:
圖1是現(xiàn)有暗像素結(jié)構(gòu)產(chǎn)生光串?dāng)_的示意圖;
圖2A是本發(fā)明實(shí)施例暗像素結(jié)構(gòu)的俯視圖;
圖2B是沿圖2A的AA線的剖面圖;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
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