[發(fā)明專利]一種測試裝置、系統(tǒng)及測試方法

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• 申請日: 2018-05-03
• 公開（公告）號: CN108563542A
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發(fā)明（設計）人: 錢芳斌;鄧恩華
• 申請（專利權）人: 中山市江波龍電子有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/273
• 代理公司: 深圳市六加知識產(chǎn)權代理有限公司 44372
• 代理人: 宋建平

本發(fā)明涉及存儲測試技術領域，公開了一種測試裝置、系統(tǒng)及測試方法,所述的測試裝置用于存儲設備的多功能測試，所述測試裝置包括至少一個下位機，每個所述下位機包括：單板，分別與上位機及所述存儲設備通信連接，用于接收并執(zhí)行所述上位機發(fā)送的測試指令，并向所述上位機返回對所述存儲設備的多功能測試結果；測量模塊，與所述單板通過統(tǒng)一接口連接，用于接收來自所述單板的測試指令，以實現(xiàn)對所述存儲設備的多功能測試。通過上述方式，本發(fā)明能夠實現(xiàn)存儲設備的多功能測試，提高測試效率，降低測試成本。

技術領域

本發(fā)明實施方式涉及存儲測試技術領域，特別是涉及一種測試裝置、系統(tǒng)及測試方法。

背景技術

存儲設備包括U盤(USB閃存盤，USB flash disk)、SSD(固態(tài)硬盤，Solid StateDrive)、eMMC(嵌入式多媒體存儲卡，Embedded Multi Media Card)、eMCP(嵌入式多芯片封裝，embedded Multi Chip Package)、UFS(通用閃存存儲，Universal Flash Storage)、SD卡(安全數(shù)碼存儲卡，Secure Digital Memory Card)等設備，被廣泛應用在各種產(chǎn)品中，例如計算機、手機等電子產(chǎn)品。

目前，隨著存儲行業(yè)技術快速發(fā)展，存儲軟件及相關硬件日益復雜，對于企業(yè)而言，如何快速可靠地向市場推出產(chǎn)品至關重要。在存儲設備的開發(fā)過程中，測試環(huán)節(jié)扮演著重要的角色，因此，提高測試效率和降低測試成本，對于提高存儲設備的產(chǎn)品競爭力至關重要。目前，對于存儲設備電氣特性參數(shù)的測試，一般是針對不同的工作狀態(tài)，使用儀器進行單獨測量，或者，使用可編程的儀器與測試裝置聯(lián)機來進行測試。

發(fā)明人在實現(xiàn)本發(fā)明實施例的過程中發(fā)現(xiàn)：目前的這些測試方法，主要存在測試步驟繁瑣以及測試成本較高的缺點，由于存儲設備存在多種工作狀態(tài)，如果每一種工作狀態(tài)都要使用儀器單獨進行測量，則測試過程非常繁瑣，測試效率較低；而如果使用可編程儀器進行聯(lián)機測試，則需要采購昂貴的可編程儀器，測試成本較高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供一種測試裝置、系統(tǒng)及測試方法，以解決現(xiàn)有技術存在的存儲設備的測試效率低，測試成本高的技術問題。

為了解決上述技術問題，本發(fā)明實施例提供以下技術方案：

第一方面，本發(fā)明實施例提供一種測試裝置，用于存儲設備的多功能測試，所述測試裝置包括至少一個下位機，每個所述下位機包括：

單板，分別與上位機及所述存儲設備通信連接，用于接收并執(zhí)行所述上位機發(fā)送的測試指令，并向所述上位機返回對所述存儲設備的多功能測試結果；

測量模塊，與所述單板通過統(tǒng)一接口連接，用于接收來自所述單板的測試指令，以實現(xiàn)對所述存儲設備的多功能測試。

在一些實施例中，所述單板包括：

上位機連接接口，用于連接所述上位機；

測量模塊連接接口，用于連接所述測量模塊；

存儲設備連接接口，用于連接所述存儲設備；

控制芯片，所述控制芯片連接所述測量模塊連接接口和所述存儲設備連接接口，所述控制芯片用于根據(jù)所述測試指令控制所述存儲設備和所述測量模塊。

在一些實施例中，所述單板還包括電源模塊，所述電源模塊用于為所述測量模塊提供電源輸入。

在一些實施例中，所述測量模塊包括：

多路可調(diào)電壓電源單元，用于為所述存儲設備提供多路可調(diào)電壓電源；

多路電源通斷控制單元，用于控制所述多路可調(diào)電壓電源的通斷；

多路電壓測量單元，用于測量所述存儲設備的多路供電電壓；