[發明專利]用于位置測量的傳感器單元

有效

• 申請號: 201810414115.3
• 申請日: 2018-05-03
• 公開（公告）號: CN108844458B
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發明（設計）人: L.里辛;M.施特克爾
• 申請（專利權）人: 約翰內斯·海德漢博士有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B7/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 劉子豪;李建新

本發明涉及一種用于位置測量的傳感器單元，所述傳感器單元用于相對于所述傳感器單元能運動的結構部件的位置測量。所述傳感器單元包括金屬體，所述金屬體具有第一空隙。在所述第一空隙中如下地布置有電子的結構元件，使得在所述電子的結構元件與所述金屬體之間存在有縫隙，其中，所述縫隙填充以起電絕緣作用的澆注物料。此外，在所述電子的結構元件上以及在所述澆注物料上施加有起電絕緣作用的第一層。所述電子的結構元件與導體電路電接觸，其中，所述導體電路在第一區段中引導穿過所述第一層并且在第二區段中在所述第一層上伸延。

技術領域

本發明涉及根據本發明的例如用于角度或長度測量機構的用于位置測量的傳感器單元。

背景技術

角度測量機構例如被用作轉動編碼器（Drehgeber）用于確定兩個相對于彼此能轉動的機器部件的角度位置（Winkellage）。此外，已知長度測量機構，在所述長度測量機構中測量兩個相對于彼此能移位的機器部件的線性的移位。角度測量機構以及長度測量機構通常具有傳感器單元，所述傳感器單元掃描相對于所述傳感器單元能運動的結構部件、例如角度刻度或長度刻度或比例尺，并且產生取決于位置的信號。

在光學的測量機構的情況下，光源和光電探測器通常裝配在光學的傳感器單元的導體板（Leiterplatte，有時稱為電路板）上。光學的刻度以空氣縫隙與所述導體板對置。然后根據已知的原理能夠產生取決于位置的信號。

通常，這種測量機構或測量儀器被用于電驅動器，以用于確定相應的機器部件的相對運動或相對位置。在這種情況下，所產生的位置值經由相應的接口組件供應給用于操控所述驅動器的后續電子部件（Folgeelektronik）。

在DE 198 43 155 A1中描述一種移位測量機構，在所述移位測量機構中，所涉及的傳感器單元具有IC芯片，所述IC芯片在樹脂成形塊（Harzformblock，有時稱為樹脂模板）中裝配在玻璃襯底上。

發明內容

本發明基于如下任務，即提供一種傳感器單元，其實現相對于外部的影響穩固的運行特性并且能夠相對經濟地制造。

所述傳感器單元適用于相對于所述傳感器單元能運動的結構部件的位置測量，其中，所述傳感器單元包括金屬體，所述金屬體具有至少一個第一空隙。在所述第一空隙中如下地布置有至少一個電子的結構元件，使得在所述電子的結構元件與所述金屬體之間存在有縫隙，其中，所述縫隙填充（ausgefüllt）以起電絕緣作用的澆注物料（Vergussmasse）。在所述電子的結構元件上以及在所述澆注物料上施加有起電絕緣作用的第一層。所述電子的結構元件與導體電路（Leiterbahn）電接觸，其中，所述導體電路在第一區段中引導穿過所述第一層并且在第二區段中在所述第一層上伸延。尤其，所述電子的結構元件與所述導體電路的第一區段直接地電接觸。

尤其，所述縫隙S如下地設計，使得所述縫隙圍繞所述電子的結構元件環繞，從而也就是說所述電子的結構元件在所述空隙中環繞地由所述澆注物料包圍。尤其，在所述電子的結構元件與所述金屬體之間不存在直接的接觸。例如將聚合物材料、例如環氧樹脂、但還有無機的粘接劑考慮作為用于所述澆注物料的材料。所述澆注物料能夠例如在澆注設備中被帶入。同樣，所述澆注物料能夠藉由注射成型方法在注射成型機器中被帶入到所述縫隙中。

所述導體電路在所述第二區段中至少部分地在所述第一層的與所述金屬體的表面背離的面上伸延。經金屬化的（aufmetallisierte）導體電路側向地伸出超過所述電子的結構元件的邊緣。

也就是說，此處在不使用線材或同類物的情況下進行所述電子的結構元件的電連結。尤其能夠放棄引線接合或放棄線材接合。

在本發明的另外的設計方案中，起電絕緣作用的第一層至少部分地也施加在所述金屬體上，并且所述導體電路的第二區段平行于所述金屬體的第一表面伸延。