[發(fā)明專利]低合金耐熱鋼再熱裂紋敏感性的評(píng)判方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810412168.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109001045A | 公開(公告)日: | 2018-12-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱麗慧;周任遠(yuǎn) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N3/18 | 分類號(hào): | G01N3/18;G01N3/40;G01N1/32 |
| 代理公司: | 上海上大專利事務(wù)所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 顧勇華 |
| 地址: | 200444*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 再熱裂紋敏感性 硬度差 低合金 耐熱鋼 評(píng)判 測(cè)量試樣 晶粒測(cè)量 晶粒內(nèi)部 拉伸試驗(yàn) 裂紋試驗(yàn) 晶粒 拘束 簡便性 金相樣 晶界 取樣 焊接 測(cè)量 | ||
1.一種低合金耐熱鋼再熱裂紋敏感性的評(píng)判方法,其特征在于該方法是測(cè)量試樣晶粒的晶界和晶內(nèi)硬度并計(jì)算硬度差,硬度差小于10 HV的再熱裂紋為低敏感性,硬度差大于12HV的再熱裂紋為高敏感性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低合金耐熱鋼再熱裂紋敏感性的評(píng)判方法,其特征在于該方法具體步驟為:
a. 取樣經(jīng)過打磨—拋光—腐蝕,達(dá)到在金相顯微鏡下清楚地看到晶界;
b. 選取視野中的一個(gè)晶粒并且測(cè)量其晶界和晶粒內(nèi)部的
c. 計(jì)算晶界和晶內(nèi)的硬度差;
d. 重復(fù)步驟2和步驟3并且計(jì)算所得到硬度差的平均值;
e. 選取其他的試樣重復(fù)步驟a到步驟d;
f. 對(duì)比各個(gè)試樣的硬度差平均值,硬度差較小的試樣再熱裂紋敏感性較低,反之較高;所述的測(cè)量硬度時(shí)使用的載荷為10g~50g,晶界和晶內(nèi)硬度點(diǎn)的距離為3μm~8μm。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海大學(xué),未經(jīng)上海大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810412168.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





