[發明專利]一種基于石墨烯的芯片測試插槽在審
| 申請號: | 201810410405.0 | 申請日: | 2018-05-02 |
| 公開(公告)號: | CN108593973A | 公開(公告)日: | 2018-09-28 |
| 發明(設計)人: | 金祺青 | 申請(專利權)人: | 江蘇匠心信息科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 六安市新圖匠心專利代理事務所(普通合伙) 34139 | 代理人: | 朱小杰 |
| 地址: | 213001 江蘇省常*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 安裝箱 插槽 芯片測試 石墨烯 安裝板 導向桿 插針 載物 印刷電路母板 測試插槽 測試芯片 插針結構 導電彈簧 頂部開口 對稱設置 設備報廢 使用壽命 推桿電機 一體設置 固定板 彈簧 焊接 開口 報廢 | ||
本發明屬于芯片測試領域,尤其是一種基于石墨烯的芯片測試插槽,針對現有的測試插槽的導電彈簧和動插針損壞后無法進行更換而導致整個插槽設備報廢無法使用的問題,現提出如下解決方案,包括一種基于石墨烯的芯片測試插槽,包括正面和頂部均設有開口的安裝箱,且安裝箱一體設置有位于安裝箱頂部開口內的第一安裝板,所述安裝箱的內側設有位于第一安裝板下方的載物結構,且安裝箱的頂部焊接有對稱設置的導向桿。本發明通過導向桿、固定板、推桿電機、第二安裝板、印刷電路母板、插針結構和載物結構,不僅能夠用于測試芯片,且還使得石墨烯彈簧和動插針損壞后能夠進行更換,從而延長整個插槽設備的使用壽命,避免報廢。
技術領域
本發明涉及芯片測試技術領域,尤其涉及一種基于石墨烯的芯片測試插槽。
背景技術
測試插槽是對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產制造缺陷及元器件不良的一種標準測試設備。它主要用于檢查在線的單個元器件以及各電路網絡的開、短路情況,具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點,ICT測試治具可進行模擬器件功能和數字器件邏輯功能測試,故障覆蓋率高,對每種單板需制作專用的針床。ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環境條件下能完全實現設計規格書所規定的功能及性能指標。用來完成這一功能的自動測試設備是由計算機控制的。 因此,測試工程師必須對計算機科學編程和操作系統有詳細的認識。測試工程師必須清楚了解測試設備與器件之間的接口,懂得怎樣模擬器件將來的電操作環境,這樣器件被測試的條件類似于將來應用的環境。
目前使用的測試插槽設有定針、導電彈簧、動針和插針板,然而,在測試過程中會發生導電彈簧被燒壞的現象,而當導電彈簧被燒壞以后,其無法單獨進行更換,使得整個插槽設備報廢無法使用,而整體拆卸插槽設備進行維修又十分麻煩,降低了測試工作的效率,另外,待測芯片在通電測試時其表面攜帶的灰塵會對其測試結果造成直接影響,使得檢測結果不夠準確,為此需要繼續深入研究。
發明內容
本發明提出的一種基于石墨烯的芯片測試插槽,解決了現有測試插槽的導電彈簧和動插針損壞后無法進行更換而導致整個插槽設備報廢無法使用的問題。
為了實現上述目的,本發明采用了如下技術方案:
一種基于石墨烯的芯片測試插槽,包括正面和頂部均設有開口的安裝箱,且安裝箱一體設置有位于安裝箱頂部開口內的第一安裝板,所述安裝箱的內側設有位于第一安裝板下方的載物結構,且安裝箱的頂部焊接有對稱設置的導向桿,所述導向桿的頂端垂直焊接有固定板,且固定板的中部嵌裝固定有推桿電機,所述推桿電機的輸出軸膠粘固定有滑動套接在導向桿外側的第二安裝板,所述第二安裝板的底部膠粘固定有印刷電路母板,且印刷電路母板的下方設有插針板,所述第一安裝板的頂部設有貫穿第一安裝板的矩形放置槽,插針板位于矩形放置槽內,矩形放置槽的相對側內壁沿高度方向設有矩形滑槽,且矩形滑槽內滑動套接有對稱設置的矩形導向塊,所述矩形導向塊固定在插針板的相對側,且矩形導向塊的底部與對應矩形滑槽底部內壁之間固定有承載彈簧,所述印刷電路母板與插針板之間設有插針結構。
優選的,所述插針板設有均勻分布的插針孔,且插針結構包括滑動套接在插針孔內的動插針,所述動插針的正上方設有固定在印刷電路母板上的定插針,且動插針與定插針的相對端均固定有插針頭,插針頭的外側套接有位于動插針和定插針之間的石墨烯彈簧,所述定插針的外側套設有膠粘固定在印刷電路母板底部的螺紋管,且螺紋管的外側螺紋套接有遮蔽管,遮蔽管套設在動插針的外側,且定插針與動插針位于一條直線上,且定插針與動插針均與印刷電路母板垂直。
所述安裝箱內側的載物結構包括固定在安裝箱底部內壁上的安裝管,且安裝管的頂端一體設置有放置板,所述放置板的頂部設有放置槽,且放置槽內放置有待測芯片,放置槽的底部內壁設有與安裝管內部連通的安裝孔,且安裝孔內嵌裝固定有隔離網,隔離網的下方設有固定在安裝箱頂部內壁上的通風扇主體,且隔離網與待測芯片之間設有間隙。
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