[發明專利]一種工業噪聲條件下的PWM波占空比測量方法

有效

• 申請號: 201810402012.5
• 申請日: 2018-04-28
• 公開（公告）號: CN108872692B
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 李文魁;張亞娟;張偉;周崗;陳永冰;葉鑫;王朋
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍工程大學
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 胡藝

1.一種工業噪聲條件下的PWM波占空比測量方法，其特征在于：采集所測PWM信號電壓瞬時值，依據設定的限幅閾值對所采集的所述電壓瞬時值進行限幅，依據多次采集的數個所述電壓瞬時值的均值和所述限幅閾值的上限獲取待測周期信號的占空比；

步驟1，設定PWM信號的采集總次數n，設定累計次數i＝0，設定限幅閾值；

步驟2，采集PWM信號電壓瞬時值V₀，i＝i+1；

步驟3，判斷所述電壓瞬時值V₀是否在所述限幅閾值之內，若是，則V_i＝V₀；

若所述電壓瞬時值V₀大于所述限幅閾值的電壓上限V_{PP_H}，則V_i＝V_{PP_H}，若所述電壓瞬時值V₀小于所述限幅閾值的電壓下限V_{PP_L}，則V_i＝V_{PP_L}；

步驟4，判斷i是否大于等于n，若是，則進入步驟5，若否，則回到步驟2；

步驟5，計算電壓平均值

步驟6，PWM信號占空比

所述限幅閾值的電壓上限V_{PP_H}設定為單片機PWM信號采集端口最大幅值電壓的70～80％，所述限幅閾值的電壓上下限V_{PP_L}設定為190mV～210mV。

2.根據權利要求1所述的一種工業噪聲條件下的PWM波占空比測量方法，其特征在于：在所述步驟2采集PWM信號電壓瞬時值V₀之前，采用光耦芯片對PWM信號進行隔離。

3.根據權利要求2所述的一種工業噪聲條件下的PWM波占空比測量方法，其特征在于：所述光耦芯片采用6N137高速光耦。

4.根據權利要求3所述的一種工業噪聲條件下的PWM波占空比測量方法，其特征在于：在所述6N137高速光耦芯片的輸入端設有限流電阻，在所述6N137高速光耦芯片的輸出端設有分壓電阻。

5.根據權利要求1所述的一種工業噪聲條件下的PWM波占空比測量方法，其特征在于：用單片機采集十位碼值ADC0的PWM信號，并將采集的所述PWM信號轉換為所述PWM信號電壓瞬時值V₀。

6.根據權利要求4所述的一種工業噪聲條件下的PWM波占空比測量方法，其特征在于：所述單片機采用C8051F340單片機。

7.根據權利要求1所述的一種工業噪聲條件下的PWM波占空比測量方法，其特征在于：

所述采集總次數n滿足香農采樣定理，1/(n×t_s)＞2f_D，其中t_s為單片機單次AD轉換時間，f_D為PWM占空比變化頻率。