[發明專利]基于多處體表位置自發熒光左右不對稱性和強度上升綜合判斷腦卒中的方法及其應用在審
| 申請號: | 201810396756.0 | 申請日: | 2018-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN110403569A | 公開(公告)日: | 2019-11-05 |
| 發明(設計)人: | 殷衛海;張銘超;吳丹紅;陶鉞;李雨嘉 | 申請(專利權)人: | 上海交通大學 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00 |
| 代理公司: | 上海順華專利代理有限責任公司 31203 | 代理人: | 陸林輝 |
| 地址: | 200030 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 腦卒中 自發熒光 不對稱性 綜合判斷 檢測 人體體表 體表位置 準確度 急性期 綜合分析 無創 應用 康復 | ||
本發明提供了一種基于綜合判斷人體體表多個部位自發熒光的強度上升以及強度的身體左右側不對稱性檢測腦卒中急性期和恢復期的檢測方法及其應用。本方法綜合分析和計算所檢測的多個部位的自發熒光強度、以及自發熒光的左右側不對稱性,從而對腦卒中發病的高危程度、腦卒中已經發病的可能性、以及腦卒中的康復程度作出判斷。本方法無創、高效、簡單、準確度高且重復性好。
技術領域
本發明提供了一種基于綜合判斷人體體表多個部位自發熒光綜合判斷腦卒中的檢測方法。具體的是指綜合分析和計算所檢測的多個部位的自發熒光強度上升的位置總數、以及左右側不對稱性的位置的總數,根據這兩個總數的總和判斷腦卒中的高危程度、是否患有腦卒中、以及腦卒中的康復程度。
背景技術
在我國以及世界各國,腦卒中是造成死亡和終生殘疾的最重大疾病之一。缺血性腦卒中是腦卒中中發病率最高的一類疾病。目前診斷的主要手段是通過核磁共振技術,進行影像學分析。這種方法,只能去醫院通過核磁共振等較昂貴的方法檢測,對于患者很不方便,耗時相對較長而且價格較昂貴。至今沒有無創、快速、經濟、可以家庭使用的判斷腦卒中是否發病的方法,也沒有可以用來在體檢時篩查出腦卒中患者的無創、快速、經濟的方法。同時,至今沒有無創、快速、經濟、可以家庭使用的判斷腦卒中預后的方法,因此,發明出無創、快速、經濟、可以家庭使用的判斷腦卒中是否發病的方法,可以用來在體檢時篩查出腦卒中患者的無創、快速、經濟的方法,以及無創、快速、經濟、可以家庭使用的判斷腦卒中預后的方法,具有極其重大的社會經濟意義以及臨床價值。
發明內容
本發明人的目的是突破現有技術的難題,提出一種可以用于判斷腦卒中發病的高危程度、腦卒中已經發病的可能性、以及腦卒中的康復程度的無創、快速的方法及其應用。
本發明人發現,如果測試者的自發熒光特定位置的強度上升的總數與這些自發熒光強度身體左右側具有不對稱性程度的位置總數之和大于2,則可以判斷該被測試者有很高風險患有腦卒中、或很有可能已經患有腦卒中。
本發明人發明一種判斷腦卒中發病的危險程度、發病可能性、康復程度的方法,包括以下步驟:通過400nm至750nm之間的激發光激發受測試者多個人體表面接收420nm至800nm之間的自發熒光。然后分析自發熒光在特定位置的強度以及自發熒光的強度在身體左右側的不對稱性程度。然后計算測試者的自發熒光特定位置的強度上升的總數與這些自發熒光強度身體左右側具有不對稱性程度的位置總數之和。
本發明人發現,如果測試者的自發熒光特定位置的強度上升的總數與這些自發熒光強度身體左右側具有不對稱性程度的位置總數之和越高,該測試者將患腦卒中的可能性越大。
本發明人發現,如果測試者的自發熒光特定位置的強度上升的總數與這些自發熒光強度身體左右側具有不對稱性程度的位置總數之和越高,該測試者已經患有腦卒中的可能性越大。
本發明人發現,如果測試者的自發熒光特定位置的強度上升的總數與這些自發熒光強度身體左右側具有不對稱性程度的位置總數之和越高,該測試者患有腦卒中的可能性越大。
本發明人發現,如果測試者是一位處于康復期的腦卒中病人,那么他的自發熒光特定位置的強度上升的總數與這些自發熒光強度身體左右側具有不對稱性程度的位置總數之和越高,該腦卒中患者康復的水平越差。
一方面,本發明提供了一種分子標記物在制備用于判斷腦卒中發病的高危程度、腦卒中發病的可能性、以及腦卒中康復程度的產品中的應用,其中,所述分子標記物使用400nm至750nm之間的激發光激發受試者體表各處的自發熒光強度及其左右不對稱性,所述自發熒光的波長范圍在420nm至800 nm之間。
在一個具體實施例中,腦卒中急性期人群和腦卒中恢復期人群左右手指甲,手掌,手指,手臂,臉部自熒光自熒光強度均顯著高于高危人群。其中手指,手臂,臉部自熒光腦卒中急性期人群顯著高于腦卒中恢復期人群。
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