[發明專利]烤箱溫控方法、裝置及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201810391029.5
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN108594896B
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 邵光遠;戴源君;程剛;彭淑方;宮俊
• 申請（專利權）人: 廣東美的廚房電器制造有限公司;美的集團股份有限公司
• 主分類號: G05D23/22
• 分類號: G05D23/22;A47J37/06
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種烤箱溫控方法，其特征在于，所述烤箱溫控方法包括以下步驟：

檢測烤箱邊緣測溫點處的第一溫度；

獲取所述第一溫度對應的檢測時間；根據預設的差值擬合函數，計算所述烤箱邊緣測溫點處的第一溫度與中心處的第二溫度之間的溫度差值；將所述第一溫度減去所述溫度差值，計算獲得所述第二溫度；

根據所述第二溫度進行加熱控制；

所述根據預設的差值擬合函數，計算所述烤箱邊緣測溫點處的第一溫度與中心處的第二溫度之間的溫度差值的步驟包括：

采用預設公式計算所述第一溫度與所述第二溫度之間的溫度差值；

其中，f(t)為所述溫度差值，t為所述第一溫度對應的檢測時間，σ1、μ1、σ2、μ2為預設系數。

2.根據權利要求1所述的烤箱溫控方法，其特征在于，所述根據預設的差值擬合函數，計算所述烤箱邊緣測溫點處的第一溫度與中心處的第二溫度之間的溫度差值的步驟之前，還包括：

獲取所述烤箱當前設定的目標溫度；

根據預設的目標溫度與差值擬合函數的映射關系，確定所述目標溫度對應的差值擬合函數；

所述根據預設的差值擬合函數，計算所述烤箱邊緣測溫點處的第一溫度與中心處的第二溫度之間的溫度差值的步驟包括：

根據確定的所述差值擬合函數，計算所述第一溫度與所述第二溫度之間的溫度差值。

3.根據權利要求1或2所述的烤箱溫控方法，其特征在于，所述檢測烤箱邊緣測溫點處的第一溫度的步驟之前，還包括：

分別采集烤箱邊緣測溫點處的試驗溫度與烤箱中心處的試驗溫度；

根據所述邊緣測溫點處的試驗溫度與所述中心處的試驗溫度，擬合烤箱邊緣測溫點處與中心處的溫度對應的差值擬合函數。

4.根據權利要求3所述的烤箱溫控方法，其特征在于，所述根據所述邊緣測溫點處的試驗溫度與所述中心處的試驗溫度，擬合烤箱邊緣測溫點處與中心處的溫度對應的差值擬合函數的步驟包括：

計算所述邊緣測溫點處的試驗溫度與所述中心處的試驗溫度的試驗溫度差值；

根據所述試驗溫度差值，擬合烤箱邊緣測溫點處與中心處的溫度對應的差值擬合函數。

5.根據權利要求4所述的烤箱溫控方法，其特征在于，所述邊緣測溫點處的試驗溫度與所述中心處的試驗溫度包括多組，所述根據所述邊緣測溫點處的試驗溫度與所述中心處的試驗溫度，擬合烤箱邊緣測溫點處與中心處的溫度對應的差值擬合函數的步驟包括：

計算多組所述邊緣測溫點處的試驗溫度的第一平均溫度，以及多組所述中心處的試驗溫度的第二平均溫度；

根據所述第一平均溫度和所述第二平均溫度，擬合烤箱邊緣測溫點處與中心處的溫度對應的差值擬合函數。

6.根據權利要求5所述的烤箱溫控方法，其特征在于，所述計算多組所述邊緣測溫點處的試驗溫度的第一平均溫度，以及多組所述中心處的試驗溫度的第二平均溫度的步驟之前，還包括：

對多組所述邊緣測溫點處的試驗溫度和所述中心處的試驗溫度進行預處理，剔除其中的異常試驗溫度；

所述計算多組所述邊緣測溫點處的試驗溫度的第一平均溫度，以及多組所述中心處的試驗溫度的第二平均溫度的步驟包括：

計算預處理后的多組所述邊緣測溫點處的試驗溫度的第一平均溫度，以及預處理后的多組所述中心處的試驗溫度的第二平均溫度。

7.一種烤箱溫控裝置，其特征在于，所述烤箱溫控裝置包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的烤箱溫控程序，所述烤箱溫控程序被所述處理器執行時實現如權利要求1-6任一項所述的烤箱溫控方法的步驟。

8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有烤箱溫控程序，所述烤箱溫控程序被處理器執行時實現如權利要求1-6任一項所述的烤箱溫控方法的步驟。