[發明專利]偏振調控裝置、方法及激光干涉式結構光照明顯微鏡系統

在審

• 申請號: 201810390264.0
• 申請日: 2018-04-27
• 公開（公告）號: CN108897139A
• 公開（公告）日: 2018-11-27
• 發明（設計）人: 文剛;李思黽;王林波;梁永;金鑫;陳曉虎;李輝
• 申請（專利權）人: 中國科學院蘇州生物醫學工程技術研究所
• 主分類號: G02B27/28
• 分類號: G02B27/28;G02B5/30;G02B21/06
• 代理公司: 蘇州華博知識產權代理有限公司 32232
• 代理人: 黃麗莉

1.偏振調控裝置，其特征在于，包括：兩個普克爾盒或兩個液晶位相延遲器，入射光依次經過第一普克爾盒、第二普克爾盒或第一液晶位相延遲器、第二液晶位相延遲器，且兩個所述普克爾盒或兩個所述液晶位相延遲器用于對該入射光的偏振態進行調控，使其產生的出射光為任意目標偏振態。

2.根據權利要求1所述的偏振調控裝置，其特征在于，所述第一普克爾盒的快軸與入射光偏振方向成45度放置。

3.根據權利要求2所述的偏振調控裝置，其特征在于，所述第二普克爾盒的快軸與入射光偏振方向平行放置。

4.根據權利要求1所述的偏振調控裝置，其特征在于，所述第一液晶位相延遲器的快軸與入射光偏振方向成45度放置。

5.根據權利要求4所述的偏振調控裝置，其特征在于，所述第二液晶位相延遲器的快軸與入射光偏振方向平行放置。

6.偏振調控方法，其特征在于，利用如權利要求1-3任一項所述的偏振調控裝置進行調控，具體包括以下步驟：

1)入射光為線偏振光；

2)第一普克爾盒的快軸與入射光偏振方向成45°放置；

3)第二普克爾盒的快軸與入射光偏振方向平行放置；

4)通過分別改變施加于第一普克爾盒和第二普克爾盒的電壓的大小來調整入射光的偏振態，使其產生的出射光為任意目標偏振態。

7.偏振調控方法，其特征在于，利用如權利要求1、4-5所述的偏振調控裝置進行調控，具體包括以下步驟：

1)入射光為線偏振光；

2)第一液晶位相延遲器的快軸與入射光偏振方向成45°放置；

3)第二液晶位相延遲器的快軸與入射光偏振方向平行放置；

4)通過分別改變施加于第一液晶位相延遲器和第二液晶位相延遲器的電壓的大小來調整入射光的偏振態，使其產生的出射光為任意目標偏振態。

8.激光干涉式結構光照明顯微鏡系統，包括：激光源、反射鏡、二向色鏡、聲光調制器AOTF、雙膠合透鏡、半波片HWP、空間光調制器LCOS、顯微物鏡以及相機，其特征在于，還包括如權利要求1-5任一項所述的偏振調控裝置。

9.根據權利要求8所述的激光干涉式結構光照明顯微鏡系統，其特征在于，還包括：空間濾波器MASK，所述空間濾波器MASK設置于所述偏振調控裝置的入射端，且所述空間濾波器MASK用于過濾不同級次的光；

所述激光源發出激光，激光通過所述反射鏡、二向色鏡、聲光調制器AOTF選通后耦合進單模保偏光纖，準直擴束后經過所述半波片HWP和PSB垂直入射到所述空間光調制器LCOS上，產生的各級次衍射光，利用所述空間濾波器MASK進行濾波，經過所述偏振調控裝置、雙膠合透鏡、二向色鏡后進入所述顯微物鏡并聚焦于焦面。

10.根據權利要求9所述的激光干涉式結構光照明顯微鏡系統，其特征在于，所述空間濾波器MASK僅讓在2D-SIM系統下的±1級衍射光或3D-SIM系統下的0級、±1級衍射光通過。