[發明專利]一種自動鎖相模塊及熒光壽命檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201810388698.7
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN108627484B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 舒學文;朱澤策
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 李智;曹葆青

1.一種熒光和磷光壽命檢測方法，其特征在于，所述檢測方法使用自動鎖相模塊進行檢測，

所述自動鎖相模塊包括光斬波器、移動平臺和四個透鏡；

所述光斬波器固定在移動平臺上，所述光斬波器的斬光盤與移動平臺的移動方向平行；所述四個透鏡均分為兩組透鏡，所述四個透鏡均平行于斬光盤，所述兩組透鏡同軸放置在斬光盤的兩側，所述兩組透鏡分別將激發光路和探測光路聚焦于斬光盤；各透鏡間的相對位置固定，但是獨立于移動平臺外，不隨移動平臺的移動而改變；

檢測過程如下：

檢測經過自動鎖相模塊的激發光路和探測光路的相位差隨位移距離的變化，在位移距離小于位移閾值時，將相位差對位移距離進行線性擬合；

保持其它測量條件一致，調節移動平臺，在不同相位差的條件下檢測熒光或者磷光信號的強度；

根據擬合的結果和斬波周期，將相位差換算成延遲時間；

利用熒光或者磷光信號的強度和延遲時間作圖，對圖進行指數擬合，得到熒光或者磷光壽命。

2.一種熒光和磷光壽命檢測方法，其特征在于，所述檢測方法使用時間分辨光譜檢測裝置進行檢測，

所述時間分辨光譜檢測裝置包括準直光源、反射鏡、聚焦透鏡、樣本架、物鏡、光譜儀和自動鎖相模塊，

所述裝置在工作時，準直光源發出的光經過自動鎖相模塊中的激發光路后，被反射鏡反射，然后經過聚焦透鏡聚焦在樣本架上的樣本上；樣本發出的熒光或磷光經過物鏡，再經過自動鎖相模塊中的探測光路后，進入光譜儀；

所述自動鎖相模塊包括光斬波器、移動平臺和四個透鏡；

所述光斬波器固定在移動平臺上，所述光斬波器的斬光盤與移動平臺的移動方向平行；所述四個透鏡均分為兩組透鏡，所述四個透鏡均平行于斬光盤，所述兩組透鏡同軸放置在斬光盤的兩側，所述兩組透鏡分別將激發光路和探測光路聚焦于斬光盤；各透鏡間的相對位置固定，但是獨立于移動平臺外，不隨移動平臺的移動而改變；

檢測過程如下：

檢測經過自動鎖相模塊的激發光路和探測光路的相位差隨位移距離的變化，在位移距離小于位移閾值時，將相位差對位移距離進行線性擬合；

保持其它測量條件一致，調節移動平臺，在不同相位差的條件下檢測熒光或者磷光信號的強度；

根據擬合的結果和斬波周期，將相位差換算成延遲時間；

利用熒光或者磷光信號的強度和延遲時間作圖，對圖進行指數擬合，得到熒光或者磷光壽命。

3.如權利要求2所述的一種熒光和磷光壽命檢測方法，其特征在于，所述光譜儀為光纖光譜儀，所述光纖光譜儀包括光纖和準直透鏡，所述光纖光譜儀在工作時，檢測的光經過準直透鏡收集到光纖內，經過光纖導入到光纖光譜儀內部進行光譜檢測。

4.一種熒光和磷光壽命檢測方法，其特征在于，所述檢測方法使用時間分辨成像裝置進行檢測，

所述時間分辨成像裝置包括準直光源、反射鏡、二向色鏡、物鏡、樣本架、照相機和自動鎖相模塊，

所述裝置在工作時，準直光源發出的光經過自動鎖相模塊中的激發光路后，依次被反射鏡、二向色鏡反射，然后經過聚焦透鏡聚焦在樣本架上的樣本上；樣本發出的熒光或磷光依次經過物鏡、二向色鏡，再經過自動鎖相模塊中的探測光路后，進入照相機；

所述自動鎖相模塊包括光斬波器、移動平臺和四個透鏡；

所述光斬波器固定在移動平臺上，所述光斬波器的斬光盤與移動平臺的移動方向平行；所述四個透鏡均分為兩組透鏡，所述四個透鏡均平行于斬光盤，所述兩組透鏡同軸放置在斬光盤的兩側，所述兩組透鏡分別將激發光路和探測光路聚焦于斬光盤；各透鏡間的相對位置固定，但是獨立于移動平臺外，不隨移動平臺的移動而改變；

檢測過程如下：

檢測經過自動鎖相模塊的激發光路和探測光路的相位差隨位移距離的變化，在位移距離小于位移閾值時，將相位差對位移距離進行線性擬合；

保持其它測量條件一致，調節移動平臺，在不同相位差的條件下檢測熒光或者磷光信號的強度；

根據擬合的結果和斬波周期，將相位差換算成延遲時間；

利用熒光或者磷光信號的強度和延遲時間作圖，對圖進行指數擬合，得到熒光或者磷光壽命。