[發明專利]像素檢測與校正電路、像素電路，以及像素檢測與校正方法

有效

• 申請號: 201810387629.4
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN108573666B
• 公開（公告）日: 2021-08-13
• 發明（設計）人: 黃明益;劉育榮;盧文哲;林承德;許清華
• 申請（專利權）人: 友達光電股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京市立康律師事務所 11805
• 代理人: 梁揮;孟超

本發明提供一種像素檢測與校正電路，包含比較器、開關單元及第一輸入單元。比較器具有第一輸入節點、第二輸入節點及輸出節點，第一輸入節點接收像素電壓。開關單元與輸出節點電性連接。第一輸入單元與第二輸入節點電性連接。其中，當像素電壓小于第一輸入單元輸入比較器的預設電壓時，輸出像素電壓；當像素電壓大于第一輸入單元輸入比較器的預設電壓時，輸出相異于像素電壓的修正電壓。

技術領域

本發明關于一種像素檢測與校正電路、包含其的像素電路，以及像素檢測與校正方法；具體而言，特別是一種用于X光射線面板的像素檢測與校正電路、包含其的像素電路，以及像素檢測與校正方法。

背景技術

在現今的技術中，X光線設備(例如醫療設備或探測設備等)可使用X光感測面板來感測X光。然而，當像素電路發生短路或其他異常時，從影像上會顯示飽和的亮點，除了影響影像的判讀之外，亦可能造成測量上的誤判。

一般而言，目前工廠大多采用雷射修復(Laser repair)的方式進行修復。舉例來說，將X光感測面板送至雷射修復系統中，藉由激光將異常的像素破壞。此時，影像上所呈現的亮點則變為暗點，接著再通過影像軟體將此暗點進行影像處理后即可出貨。

然而，雷射修復的方式可能會在基板表面形成破洞，產品可靠度無法提升。此外，此一方式也需要大量的人力成本。

發明內容

有鑒于此，本發明的一實施例在于提供一種像素檢測與校正電路，包含比較器、開關單元及第一輸入單元。比較器具有輸入節點及輸出節點，其輸入節點接收像素電壓。開關單元與輸出節點電性連接。第一輸入單元與開關單元相反于比較器的一端電性連接。

于本實施例中，當像素電壓小于第一輸入單元輸入比較器的預設電壓時，輸出像素電壓。另一方面，當像素電壓大于第一輸入單元輸入比較器的預設電壓時，輸出相異于像素電壓的修正電壓。

本發明的另一實施例在于提供一種像素電路，包含像素單元及像素檢測與校正電路。像素單元用以輸出前述實施例的像素電壓。其中，輸入節點與像素單元電連接以接收像素電壓。

本發明的另一實施例在于提供一種像素檢測及校正方法，適用于前述像素檢測與校正電路，包含下列步驟：(S1)比較該像素電壓與該預設電壓；(S2)當該像素電壓小于該預設電壓時，輸出該像素電壓；以及(S3)當該像素電壓大于該預設電壓時，輸出該修正電壓。

相較于現有技術，本發明所提的架構及方法能檢測像素電路是否異常，并根據其檢測結果進行電壓修正，無須破壞面板即可修正異常電路所導致的像素異常，除減少誤判之外亦能節省人力成本。

附圖說明

圖1A及圖1B為本發明像素檢測與校正電路的一實施例示意圖。

圖1C為本發明像素檢測與校正電路的一時序圖。

圖2為本發明像素檢測與校正電路的另一實施例示意圖。

圖3為本發明像素檢測與校正電路的另一實施例示意圖。

圖4為本發明像素檢測與校正電路的另一實施例示意圖。

圖5為本發明像素檢測與校正電路的另一實施例示意圖。

圖6為本發明像素檢測及校正方法的實施例流程圖。

其中，附圖標記：

1像素檢測及校正電路 11比較器

12開關單元 13第一輸入單元

14第二輸入單元 15取樣電路

2像素檢測及校正電路 21比較器

22開關單元 23第一輸入單元