[發明專利]顯示裝置、顯示方法和存儲介質

有效

• 申請號: 201810385891.5
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN108804282B
• 公開（公告）日: 2021-11-12
• 發明（設計）人: 藤田祥;高橋公一;江間伸明
• 申請（專利權）人: 橫河電機株式會社
• 主分類號: G06F11/30
• 分類號: G06F11/30;G06F11/32
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 李雪春;王維玉

1.一種顯示裝置，其特征在于包括：

操作輸入部，指定觀測值的數據范圍；

解析條件設定部，與包含在所述數據范圍內的樣本數對應，確定所述觀測值的解析范圍或解析參數；

運算部，基于所述解析范圍或所述解析參數，解析所述觀測值的波形或傾向；以及

顯示畫面生成部，使顯示部顯示作為所述運算部的運算結果的波形或直線，

所述運算部基于所述解析范圍或所述解析參數，執行所述觀測值的低通濾波運算，

所述顯示畫面生成部使顯示部以波形方式顯示所述運算部的所述低通濾波運算的結果，

所述解析條件設定部根據所述數據范圍來計算與所述低通濾波運算的截止頻率對應的濾波器長度和濾波系數。

2.根據權利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，

所述運算部基于所述解析范圍或所述解析參數，計算表示所述觀測值的變化傾向的斜率，

所述顯示畫面生成部使顯示部顯示所述觀測值的波形以及具有與所述波形對應的、通過所述計算得到的斜率的直線。

3.根據權利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，所述運算部包括變化傾向計算部，所述變化傾向計算部以目標函數最小化的方式計算一次函數的斜率，所述一次函數的斜率表示所述解析范圍內的所述觀測值的變化傾向。

4.根據權利要求1至3中任意一項所述的顯示裝置，其特征在于，所述解析條件設定部將所述解析范圍中的規定比例確定為所述數據范圍。

5.一種顯示方法，其特征在于包括：

使用顯示裝置，指定觀測值的數據范圍；

設定與包含在所述數據范圍內的樣本數對應的所述觀測值的解析范圍或解析參數；

在運算過程中，解析基于所述解析范圍或所述解析參數的所述觀測值的波形或傾向；以及

顯示作為所述運算過程的運算結果的波形或直線，

在所述解析中，基于所述解析范圍或所述解析參數，執行所述觀測值的低通濾波運算，

在所述波形或直線的顯示中，以波形方式顯示所述低通濾波運算的結果，

在所述解析范圍或所述解析參數的設定中，根據所述數據范圍來計算與所述低通濾波運算的截止頻率對應的濾波器長度和濾波系數。

6.一種存儲介質，為計算機可讀的非臨時性存儲介質，并存儲有用于使包含在顯示裝置中的計算機執行指令的程序，所述存儲介質的特征在于，

所述程序使所述計算機執行的所述指令包括：

操作輸入指令，指定觀測值的數據范圍；

解析條件設定指令，與包含在所述數據范圍內的樣本數對應，確定所述觀測值的解析范圍或解析參數；

運算指令，基于所述解析范圍或所述解析參數，解析所述觀測值的波形或傾向；以及

顯示畫面生成指令，使顯示部顯示作為所述運算指令的運算結果的波形或直線，

由所述運算指令，基于所述解析范圍或所述解析參數，執行所述觀測值的低通濾波運算，

由所述顯示畫面生成指令，在顯示部顯示所述低通濾波運算的結果，

由所述解析條件設定指令，根據所述數據范圍來計算與所述低通濾波運算的截止頻率對應的濾波器長度和濾波系數。