[發(fā)明專利]陣列基板、顯示面板和顯示裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810385604.0
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN108646483B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 邵琬童;夏志強;金慧俊
• 申請（專利權(quán)）人: 上海中航光電子有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;G09G3/00;H01L27/32
• 代理公司: 北京晟睿智杰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11603
• 代理人: 于淼

本發(fā)明公開了一種陣列基板、顯示面板和顯示裝置。該陣列基板包括：多條信號線，多條信號線包括第一信號線和第二信號線，第一信號線的負載大于第二信號線的負載；測試引線；控制引線；多個測試開關(guān)，測試開關(guān)包括輸出端、輸入端和控制端，每個測試開關(guān)的輸出端均與一條不同的信號線電連接，每個測試開關(guān)的輸入端均與一條測試引線電連接，每個測試開關(guān)的控制端均與一條控制引線電連接；多個測試開關(guān)包括第一測試開關(guān)和第二測試開關(guān)，第一測試開關(guān)的輸出端與第一信號線電連接，第二測試開關(guān)的輸出端與第二信號線電連接；其中，第一測試開關(guān)的開態(tài)電流大于第二測試開關(guān)的開態(tài)電流。通過本發(fā)明，能夠提高測試的準確度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種陣列基板、顯示面板和顯示裝置。

背景技術(shù)

顯示面板封裝之后，將芯片(IC)或柔性電路板(FPC)壓接于顯示面板之前，需要對顯示面板進行測試，其中，以開關(guān)(switch，SW)方式進行測試較為常見。測試時，外部測試信號經(jīng)開關(guān)傳遞至顯示面板的數(shù)據(jù)信號線上，為像素提供數(shù)據(jù)信號，測試像素的顯示效果。此外，對于將觸控功能集成在顯示面板中的觸控顯示面板，除了測試像素的顯示效果，還需要測試觸控功能。在測試觸控功能時，與測試像素的顯示效果類似，外部測試信號經(jīng)開關(guān)傳遞至觸控電極線上，為觸控電極提供輸入信號，測試觸控電極的觸控檢測功能。

隨著顯示面板的發(fā)展，顯示面板的形狀逐漸多樣化，由傳統(tǒng)的長方形逐步發(fā)展為多種形狀，例如，拐角為圓弧形狀的顯示面板，或者圓形形狀的顯示面板等異形顯示面板，對于該異形顯示面板，采用SW方式進行測試時，容易將異形顯示面板形狀特殊引起的顯示差異或觸控差異誤判為顯示面板異常，從而使得這類型顯示面板的測試準確性降低。

因此，提供一種陣列基板、顯示面板和顯示裝置，提高異形顯示面板測試的準確性，是本領(lǐng)域亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供了一種陣列基板、顯示面板和顯示裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)中異形顯示面板測試準確性低的技術(shù)問題。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出一種陣列基板。

該陣列基板包括：多條信號線，所述多條信號線包括第一信號線和第二信號線，所述第一信號線的負載大于所述第二信號線的負載；測試引線；控制引線；多個測試開關(guān)，所述測試開關(guān)包括輸出端、輸入端和控制端，每個所述測試開關(guān)的輸出端均與一條不同的所述信號線電連接，每個所述測試開關(guān)的輸入端均與一條所述測試引線電連接，每個所述測試開關(guān)的控制端均與一條所述控制引線電連接；所述多個測試開關(guān)包括第一測試開關(guān)和第二測試開關(guān)，所述第一測試開關(guān)的輸出端與所述第一信號線電連接，所述第二測試開關(guān)的輸出端與所述第二信號線電連接；其中，所述第一測試開關(guān)的開態(tài)電流大于所述第二測試開關(guān)的開態(tài)電流。

另一方面，基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明還提出一種顯示面板。

本發(fā)明提供的顯示面板包括本發(fā)明提供的任意一種陣列基板。

再一方面，基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明還提出一種顯示裝置。

本發(fā)明提供的顯示裝置包括本發(fā)明提供的任意一種顯示面板。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的陣列基板、顯示面板和顯示裝置，實現(xiàn)了如下的有益效果：

對于陣列基板上負載較大的第一信號線和負載較小的第二信號線，設(shè)置與第一信號線連接的測試開關(guān)的開態(tài)電流，大于與第二信號線連接的測試開關(guān)的開態(tài)電流，也即第一測試開關(guān)的開態(tài)電流大于第二測試開關(guān)的開態(tài)電流，使得第一測試開關(guān)的驅(qū)動能力大于第二測試開關(guān)的驅(qū)動能力，能夠補償?shù)谝恍盘柧€與第二信號線的負載差異，從而在進行測試時，能夠改善由于信號線自身負載差異而造成的顯示不良，進而能夠提高測試的準確度。

通過以下參照附圖對本發(fā)明的示例性實施例的詳細描述，本發(fā)明的其它特征及其優(yōu)點將會變得清楚。

附圖說明