[發明專利]陣列基板及其檢測方法、液晶面板及其配向方法

有效

• 申請號: 201810380088.2
• 申請日: 2018-04-25
• 公開（公告）號: CN108594498B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 朱清永
• 申請（專利權）人: TCL華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/133
• 分類號: G02F1/133;G02F1/1337;G02F1/1362
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

本申請涉及一種陣列基板，所述陣列基板的顯示區內為像素單元，所述顯示區外圍設有依次串聯的多個功能控制點，所述功能控制點用于控制所述像素單元，任意兩個相鄰所述功能控制點之間均設有TFT開關，各所述TFT開關均并聯于開關控制點。通過對所述開關控制點的電壓控制，可以按需求實現各所述功能控制點之間的串聯/斷開狀態切換。從而省去對金膠的使用。本申請還涉及所述陣列基板的檢測方法，以及含有所述陣列基板的液晶面板、及所述液晶面板的配向方法。

技術領域

本申請涉及液晶面板領域，尤其涉及一種陣列基板和包含此陣列基板的液晶面板，以及所述陣列基板的檢測方法和所述液晶面板的配向方法。

背景技術

當前的液晶面板制造工序中，對于陣列基板的顯示區外圍需要設置多個功能控制點，這些功能控制點電連接于顯示區內的像素單元，通過扎針等方式輸入信號，用于陣列基板各層成膜過程中的不良檢查(開/斷性能等)以及電性量測。而在陣列基板制作完成后，需要進入對盒和液晶配向等工序。此時需要先將多個功能控制點進行串聯，通過上下兩層公共電極之間形成電場，對液晶分子在電場中發生偏轉，再通過UV光照射發生一系列聚合反應使液晶分子被錨定形成預傾角完成配向。

在多個功能控制點與公共電極控制點串聯的工序中，通常采用金膠(Au)涂布，將各個功能控制點和公共電極控制點依次串聯起來。但是金膠的成本太高，且在涂布的過程中容易出現斷膠、甩膠等不良缺陷，降低陣列基板的良品率，影響液晶面板的成本控制。

發明內容

本申請提出一種電路優化的陣列基板，能夠省去對金膠的使用，同時按需求實現各功能控制點之間的串聯/斷開狀態切換。本申請包括如下技術方案：

一種陣列基板，所述陣列基板的顯示區內為像素單元，所述顯示區外圍設有依次串聯的多個功能控制點，所述功能控制點用于控制所述像素單元，任意兩個相鄰所述功能控制點之間均設有TFT開關，各所述TFT開關均為并聯，并聯的多個所述TFT開關均由同樣位于所述顯示區外圍的開關控制點所控制。

其中，所述功能控制點包括第一公共電極控制點、彩色控制點和門電路控制點，所述第一公共電極控制點、所述彩色控制點和所述門電路控制點依次通過所述TFT開關串聯。

其中，所述彩色控制點的數量至少為三個，每一個所述彩色控制點均連接所述顯示區內對應顏色像素單元的信號電極，各個所述彩色控制點依次通過所述TFT開關串聯。

其中，所述門電路控制點包括ST控制點，CK控制點和VSS控制點，所述門電路控制點連接所述顯示區內所述像素單元的掃描電極，所述ST控制點，所述CK控制點和所述VSS控制點依次通過所述TFT開關串聯。

其中，所述陣列基板的顯示區外還設有第二公共電極控制點，所述第二公共電極控制點相對于所述功能控制點、所述TFT開關和所述開關控制點均絕緣，所述第二公共電極控制點用于向所述陣列基板外部提供與所述功能控制點的電位相配合的電勢差。

本申請涉及上述陣列基板的檢測方法，包括如下步驟：

對所述開關控制點施加第一電壓，以關閉所述TFT開關。

本申請還涉及一種液晶面板，包括彩色基板和上述任一項所述陣列基板，以及填充于所述彩色基板和所述陣列基板之間的液晶，所述彩色基板和所述陣列基板電連接。

其中，所述陣列基板的顯示區外還設有第二公共電極控制點，所述彩色基板上設有相互絕緣的第一電區和第二電區，至少一個所述功能控制點在所述彩色基板上的投影位于所述第一電區之內，所述開關控制點和所述第二公共電極控制點在所述彩色基板上的投影位于所述第二電區之內。

其中，投影在所述第一電區內的一個所述功能控制點與所述第一電區電連接，所述第二公共電極控制點、所述開關控制點分別與所述第二電區電連接。

對于本申請所述液晶面板的配向方法，包括以下步驟：