[發(fā)明專利]一種剔除角度傾斜影響的工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率測試方法及評價方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810375996.2
• 申請日: 2018-04-25
• 公開（公告）號: CN108844977B
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發(fā)明（設計）人: 齊子誠;倪培君;郭智敏;李紅偉;鄭穎;唐盛明;左欣;王曉艷;張榮繁;喬日東;張維國;付康
• 申請（專利權）人: 中國兵器科學研究院寧波分院
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046
• 代理公司: 寧波誠源專利事務所有限公司 33102
• 代理人: 袁忠衛(wèi)

1.一種剔除角度傾斜影響的工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率測試方法，其特征在于：包括如下步驟

1)通過機械加工手段制造空間分辨率測試模體(1)，該測試模體(1)包括嵌在低密度材料(11)中的兩個形狀規(guī)則的定位件(12)和位于兩個定位件(12)之間的第一矩形塊(13)，兩個所述定位件(12)中心均與所述第一矩形塊(13)長邊方向中軸線一致；或者所述測試模體(1)包括第二矩形塊(14)，該第二矩形塊(14)長邊中軸線兩端設有兩個形狀規(guī)則的定位孔(15)，兩個所述定位孔(15)中心均與所述第二矩形塊(14)長邊方向中軸線一致，對所述測試模體(1)進行CT掃描，獲取所述測試模體(1)截面的工業(yè)CT圖像；

2)計算出兩個所述定位件(12)或兩個所述定位孔(15)的中心位置在圖像上距離，單位是像素，根據(jù)兩個定位件(12)或兩個定位孔(15)真實距離計算工業(yè)CT圖像的像素尺寸，單位是毫米每像素，將兩中心相連計算出所述第一矩形塊(13)或所述第二矩形塊(14)的中軸線，截取該中軸線在所述第一矩形塊(13)或所述第二矩形塊(14)內的部分，以該部分中軸線為中心線，以所述第一矩形塊(13)或所述第二矩形塊(14)的短邊長度為寬度，向兩邊選擇一矩形區(qū)域，計算出該矩形區(qū)域內所有像素點到中軸線的距離；

3)將所述矩形區(qū)域內的像素按距離單位歸組，分組距離單位的大小根據(jù)圖像矩陣尺寸加以選擇，同一個距離單位范圍內像素為一組，取每組中像素的平均像素值，建立距離和平均像素值之間對應關系圖；

4)設定一長度區(qū)域，該長度區(qū)域根據(jù)圖像矩陣加以選擇，在對應關系圖中，從中軸線上作為起點像素，選中與該起點像素距離在所述長度區(qū)域內的像素進行最小二乘法線性擬合，取擬合后的中間點像素值替代該起點像素值，以此類推，將對應關系圖中所有像素值進行擬合處理，得到平滑后的邊緣響應函數(shù)(ERF)曲線；

5)對所述步驟4)得到的邊緣響應函數(shù)(ERF)曲線，從中軸線上作為起點像素，選中與該起點像素距離在長度區(qū)域內的像素進行最小二乘法線性擬合，再進行前向求導，取求導后的中間點像素值替代該起點像素，以此類推，將對應關系圖中所有像素值進行擬合處理，得到點擴散函數(shù)(PSF)曲線；

6)對所述步驟5)得到的點擴散函數(shù)(PSF)曲線進行傅立葉變換，取模以零頻率處的幅值作為除數(shù)進行歸一化處理，得到調制傳遞函數(shù)(MTF)曲線。

2.根據(jù)權利要求1所述的剔除角度傾斜影響的工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨率測試方法，其特征在于：所述步驟1)中對所述測試模體(1)進行CT掃描，掃描位置選取測試模體(1)中間部位，獲取包含刃邊的工業(yè)CT圖像，設該區(qū)域圖像矩陣為w×w像素。