[發明專利]一種SE電池印刷對位檢測防偏移補償方法

在審

• 申請號: 201810374687.3
• 申請日: 2018-04-24
• 公開（公告）號: CN108550653A
• 公開（公告）日: 2018-09-18
• 發明（設計）人: 吳俊旻;張鵬;常青;余波;謝耀輝;楊蕾;閆濤
• 申請（專利權）人: 通威太陽能（合肥）有限公司
• 主分類號: H01L31/18
• 分類號: H01L31/18
• 代理公司: 昆明合眾智信知識產權事務所 53113
• 代理人: 楊俊達

1.一種SE電池印刷對位檢測防偏移補償方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一、MARK點的設置：在電池片上進行鐳射摻雜，形成鐳射摻雜線，并且在鐳射摻雜線上鐳射出MARK點；

步驟二、電極柵線的印刷：將電池放在載片臺上與印刷機進行對位，調整印刷機使得電極柵線在印刷時正好疊印于鐳射摻雜線上；

且印刷主柵線時，會在主柵線上留有與MARK點對應的鏤空區域不予印刷；

步驟三、電池片抽查檢測：在印刷流水線上，每隔相同片數抽取一片電池片，進行該電池片的對位檢測；

步驟四、檢測和補償：使用固定位置的CCD連續采集電池片的MARK點對準圖像，采集信號傳輸到電腦，分析處理成像，從而判斷出電池片印刷過程中是否發生偏移；

若發生偏移，得出具體偏移量，然后及時調整印刷機參數校準對位，進行偏移量的補償。

2.根據權利要求1所述的一種SE電池印刷對位檢測防偏移補償方法，其特征在于：步驟一中，所述MARK點設置有不少于4個。

3.根據權利要求1所述的一種SE電池印刷對位檢測防偏移補償方法，其特征在于：步驟一中，所述MARK點設置為十字形或環形。

4.根據權利要求1所述的一種SE電池印刷對位檢測防偏移補償方法，其特征在于：步驟三中，采用每隔數十片或數百片的方式進行印刷流水線上電池片的抽取。