[發明專利]一種高分辨太赫茲圖像處理方法在審
| 申請號： | 201810371343.7 | 申請日： | 2018-04-24 |
| 公開（公告）號： | CN110400282A | 公開（公告）日： | 2019-11-01 |
| 發明（設計）人： | 祁峰;寧威 | 申請（專利權）人： | 中國科學院沈陽自動化研究所 |
| 主分類號： | G06T5/50 | 分類號： | G06T5/50;G06T3/40 |
| 代理公司： | 沈陽科苑專利商標代理有限公司 21002 | 代理人： | 李巨智 |
| 地址： | 110016 遼*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 點擴散函數 成像樣品 復數矩陣 相位矩陣 高分辨成像 成像系統 圖像處理 高分辨 成像分辨率 傳統傳感器 傳統探測器 高分辨圖像 波動特性 光學器件 近場成像 盲去卷積 物理限制 相位信息 電磁場 光斑 低成本 引入 重建 | ||
【權利要求書】：
1.一種高分辨太赫茲圖像處理方法，其特征在于：包括以下過程：
步驟1：獲取成像樣品的幅度和相位矩陣，獲取成像系統的點擴散函數的幅度和相位矩陣；
步驟2：將成像樣品的幅度和相位矩陣組合成成像樣品的復數矩陣，將點擴散函數的幅度和相位矩陣組合成點擴散函數的復數矩陣；
步驟3：對成像樣品的復數矩陣和點擴散函數的復數矩陣進行非盲去卷積計算，得到高分辨圖像。
2.根據權利要求1所述的高分辨太赫茲圖像處理方法，其特征在于：所述成像系統為透射式太赫茲成像系統。
3.根據權利要求1所述的高分辨太赫茲圖像處理方法，其特征在于：所述成像樣品的復數矩陣為：g＝A1.*exp(P1/180*π*i)
其中，A1為獲取成像樣品的幅度矩陣，P1代表獲取成像樣品的相位矩陣。
4.根據權利要求1所述的高分辨太赫茲圖像處理方法，其特征在于：所述點擴散函數的復數矩陣為：k＝A2.*exp(P2/180*π*i)
其中，A2為獲取成像樣品的幅度矩陣，P2為獲取成像樣品的相位矩陣。
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