[發(fā)明專利]基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法的電子電路EMI敏感區(qū)域定位測(cè)量系統(tǒng)及定位測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810371119.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108828347B | 公開(公告)日: | 2020-07-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 青島中電綠網(wǎng)新能源有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01B7/004 |
| 代理公司: | 青島致嘉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 37236 | 代理人: | 單虎 |
| 地址: | 266100 山東省青島市*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 變換 算法 電子電路 emi 敏感區(qū)域 定位 測(cè)量 系統(tǒng) 測(cè)量方法 | ||
1.一種基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法的電子電路EMI敏感區(qū)域定位測(cè)量系統(tǒng),其特征在于:包括
二維掃描平臺(tái)、端口探測(cè)儀、數(shù)據(jù)處理工作站,所述二維掃描平臺(tái)用于將與端口探測(cè)儀相連的探測(cè)天線移動(dòng)到掃描平面的目標(biāo)點(diǎn)位并精確記錄探測(cè)天線的實(shí)時(shí)坐標(biāo);所述端口探測(cè)儀用于測(cè)量探測(cè)天線所在點(diǎn)位處探測(cè)天線和參考天線之間的相對(duì)電場(chǎng)復(fù)振幅;所述數(shù)據(jù)處理工作站用于向二維掃描平臺(tái)下發(fā)目標(biāo)點(diǎn)位指令,接收記錄探測(cè)天線實(shí)時(shí)坐標(biāo),向端口探測(cè)儀下發(fā)讀取探測(cè)天線所在點(diǎn)位處探測(cè)天線和參考天線之間相對(duì)電場(chǎng)復(fù)振幅的指令并讀取相關(guān)數(shù)據(jù),最后基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法將掃描平面內(nèi)掃到的所采樣點(diǎn)的位置坐標(biāo)和該點(diǎn)上的電場(chǎng)參數(shù)進(jìn)行綜合運(yùn)算,最終推導(dǎo)出與掃描平面平行的,被測(cè)電子系統(tǒng)所在的待測(cè)平面內(nèi)的電磁場(chǎng)分布,
所述基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法算式如下所示:
在上式(1)中,k表示平面電磁波的傳播矢量,kx、ky、kz分別表示傳播矢量在空間中x、y、z方向上的分量,在上式(2)中,Es(x,y,z0)是掃描平面電場(chǎng)的譜密度函數(shù),z0是掃描平面與源平面之間的垂直距離,是z0的算子。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法的電子電路EMI敏感區(qū)域定位測(cè)量系統(tǒng),其特征在于:所述二維掃描平臺(tái)包括由X軸自動(dòng)滑軌、Y軸自動(dòng)滑軌、X軸步進(jìn)電機(jī)、Y軸步進(jìn)電機(jī)、X軸位置編碼器、Y軸位置編碼器、探測(cè)天線安裝滑塊組成的掃描骨架以及坐標(biāo)-位移控制器,所述X軸步進(jìn)電機(jī)設(shè)置在X軸自動(dòng)滑軌上,所述Y軸步進(jìn)電機(jī)設(shè)置在Y軸自動(dòng)滑軌上,所述X軸位置編碼器設(shè)置在X軸步進(jìn)電機(jī)的電機(jī)軸上,所述Y軸位置編碼器設(shè)置在Y軸步進(jìn)電機(jī)的電機(jī)軸上,所述探測(cè)天線安裝滑塊設(shè)置在X軸自動(dòng)滑軌上,所述坐標(biāo)-位移控制器控制X軸步進(jìn)電機(jī)、Y軸步進(jìn)電機(jī)實(shí)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)探測(cè)天線安裝滑塊可以在X軸自動(dòng)滑軌和Y軸自動(dòng)滑軌所組成掃描平面上沿X軸和Y軸運(yùn)動(dòng),并且坐標(biāo)-位移控制器的微控制器分別對(duì)X軸位置編碼器、Y軸位置編碼器的圈數(shù)脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù),并接收X軸步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器和Y軸步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器的位置反饋,計(jì)算出探測(cè)天線安裝滑塊的實(shí)時(shí)坐標(biāo),也就是探測(cè)天線的實(shí)時(shí)坐標(biāo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法的電子電路EMI敏感區(qū)域定位測(cè)量系統(tǒng),其特征在于:所述坐標(biāo)-位移控制器接收數(shù)據(jù)處理工作站發(fā)送的目標(biāo)點(diǎn)位指令。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法的電子電路EMI敏感區(qū)域定位測(cè)量系統(tǒng),其特征在于:所述坐標(biāo)-位移控制器向數(shù)據(jù)處理工作站發(fā)送探測(cè)天線的實(shí)時(shí)坐標(biāo)。
5.一種采用如權(quán)利要求1所述的基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法的電子電路EMI敏感區(qū)域定位測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行定位測(cè)量方法,其特征在于,所述方法為:被測(cè)電子系統(tǒng)放置在二維掃描平臺(tái)的正下方,數(shù)據(jù)處理工作站向二維掃描平臺(tái)下發(fā)目標(biāo)點(diǎn)位指令,二維掃描平臺(tái)將端口探測(cè)儀的探測(cè)天線移動(dòng)到掃描平面的目標(biāo)點(diǎn)位,精確記錄探測(cè)天線的實(shí)時(shí)坐標(biāo)并把探測(cè)天線的實(shí)時(shí)坐標(biāo)發(fā)送給數(shù)據(jù)處理工作站,數(shù)據(jù)處理工作站向端口探測(cè)儀下發(fā)讀取探測(cè)天線所在點(diǎn)位處探測(cè)天線和參考天線之間相對(duì)復(fù)振幅的指令,端口探測(cè)儀測(cè)量探測(cè)天線所在點(diǎn)位處探測(cè)天線和參考天線之間的相對(duì)電場(chǎng)復(fù)振幅并將測(cè)量的所述相對(duì)電場(chǎng)復(fù)振幅發(fā)送給數(shù)據(jù)處理工作站,數(shù)據(jù)處理工作站基于近-遠(yuǎn)場(chǎng)變換算法將掃描平面內(nèi)掃到的所采樣點(diǎn)的位置坐標(biāo)和該點(diǎn)上的電場(chǎng)參數(shù)進(jìn)行綜合運(yùn)算,最終推導(dǎo)出與掃描平面平行的,被測(cè)電子系統(tǒng)所在的待測(cè)平面內(nèi)的電磁場(chǎng)分布。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





