[發(fā)明專利]顯示面板在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810368523.X | 申請日: | 2018-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN108614380A | 公開(公告)日: | 2018-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 衣志光 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1362 | 分類號: | G02F1/1362 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44304 | 代理人: | 孫偉峰;武岑飛 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 公共電壓 顯示面板 總線 功能區(qū) 陣列基板測試 測試區(qū) 連接線 陣列基板 總線設(shè)置 測試線 測試信號 連接設(shè)置 有效減少 金屬層 走線 測試 | ||
本發(fā)明提供了一種顯示面板。所述顯示面板包括陣列基板,所述陣列基板包括功能區(qū)和設(shè)于所述功能區(qū)外側(cè)的測試區(qū);公共電壓總線,所述公共電壓總線設(shè)置于所述功能區(qū),用于提供公共電壓;陣列基板測試組線,所述陣列基板測試組線靠近所述公共電壓總線設(shè)置于所述測試區(qū),所述陣列基板測試組線包括公共電壓測試線,用于向所述公共電壓總線提供公共電壓測試信號,用于對所述公共電壓總線進行測試;連接線,用于連接設(shè)置于所述功能區(qū)和所述測試區(qū)的走線,所述連接線與所述公共電壓測試線及所述公共電壓總線的至少一部分位于同一金屬層。與相關(guān)技術(shù)相比,本發(fā)明提供的顯示面板,能有效減少ESD現(xiàn)象的發(fā)生。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示面板領(lǐng)域,尤其涉及一種可預(yù)防ESD的顯示面板。
背景技術(shù)
薄膜晶體管液晶顯示器(Thin-Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)是顯示器的一種,具有低功耗、薄型化、高解析度等優(yōu)點。隨著科技發(fā)展,薄膜晶體管顯示器的顯示面板的制造技術(shù)逐漸成熟,市場上的薄膜晶體管顯示面板使用范圍也越來越廣泛。
然而,在薄膜晶體管顯示面板的生產(chǎn)過程中,靜電放電(electro staticdischarge,ESD)往往會對薄膜晶體管顯示面板內(nèi)部的線路造成傷害,進而影響薄膜晶體管顯示面板的良率,故越來越多業(yè)者關(guān)注在靜電放電的預(yù)防。
相關(guān)技術(shù)的顯示面板包括陣列基板、設(shè)置于所述陣列基板表面的公共電壓總線和陣列基板測試組線,所述公共電壓總線用于提供公共電壓,所述陣列基板測試組線用于對所述公共電壓總線提供公共電壓測試信號進行測試,因為所述陣列基板測試組線需要向所述公共電壓總線傳輸測試信號,所以在所述公共電壓總線和所述陣列基板測試組線之間采用跨線連接,導(dǎo)致在跨線的部位極易發(fā)生ESD現(xiàn)象。
因此,有必要提供一種顯示面板,以有效預(yù)防靜電帶來的損傷。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服上述技術(shù)問題,提供一種能有效減少ESD現(xiàn)象發(fā)生的顯示面板。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明技術(shù)提供了一種顯示面板,所述具顯示區(qū)的顯示面板包括
陣列基板,所述陣列基板包括功能區(qū)和設(shè)于所述功能區(qū)外側(cè)的測試區(qū);
公共電壓總線,所述公共電壓總線設(shè)置于所述功能區(qū)的周緣部分,用于所述向顯示區(qū)提供公共電壓;
陣列基板測試組線,所述陣列基板測試組線設(shè)置于所述測試區(qū)最靠近所述公共電壓總線的區(qū)域,所述陣列基板測試組線包括公共電壓測試線,用于向所述公共電壓總線提供公共電壓測試信號進行測試;
連接線,用于連接設(shè)置于所述功能區(qū)和所述測試區(qū)的走線,所述連接線與所述公共電壓測試線及所述公共電壓總線的至少一部分位于同一金屬層。
優(yōu)選的,在所述陣列基板測試組線中,所述公共電壓測試線位于所述陣列基板測試組線的外側(cè)且最靠近所述公共電壓總線設(shè)置。
優(yōu)選的,所述公共電壓總線和所述公共電壓測試線均為雙層走線結(jié)構(gòu),所述雙層走線結(jié)構(gòu)分別位于第一金屬層和第二金屬層上,所述連接線為位于第一金屬層上的單層走線結(jié)構(gòu),所述連接線的兩端分別與所述公共電壓總線和所述公共電壓測試線中位于第一金屬層的走線部分直接連接。
優(yōu)選的,所述公共電壓總線和所述公共電壓測試線均為雙層走線結(jié)構(gòu),所述雙層走線分別位于第一金屬層和第二金屬層上,所述連接線為位于第二金屬層上的單層走線結(jié)構(gòu),所述連接線的兩端分別與所述公共電壓總線和所述公共電壓測試線中位于第二金屬層的走線部分直接連接。
優(yōu)選的,所述公共電壓總線、所述公共電壓測試線和所述連接線均為雙層走線結(jié)構(gòu),所述雙層走線分別位于第一金屬層和第二金屬層上,所述連接線在所述第一金屬層和所述第二金屬層上均與所述公共電壓總線和所述公共電壓測試線直接連接。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





