[發明專利]儲層物性的修正方法和裝置

在審

• 申請號: 201810368515.5
• 申請日: 2018-04-23
• 公開（公告）號: CN110389099A
• 公開（公告）日: 2019-10-29
• 發明（設計）人: 陳剛強;唐勇;萬敏;常秋生;劉海磊;卞保力
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（北京）
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉丹;黃健

1.一種儲層物性的修正方法，其特征在于，包括：

根據低壓膠體灌注的儲層的全直徑巖心的壓汞資料，獲取全直徑巖心的顯孔隙度-滲透率函數模型；

根據所述全直徑巖心的鑄體薄片資料，通過圖像分析方法，獲取所述全直徑巖心的顯縫面孔率和假縫面孔率，所述顯縫面孔率用于指示鑄體薄片圖像中所有縫隙的比率，所述假縫面孔率用于指示所述鑄體薄片圖像中假縫的比率；

根據所述顯縫面孔率和假縫面孔率，獲取所述全直徑巖心的真孔隙度；

根據所述真孔隙度和所述全直徑巖心的顯孔隙度-滲透率函數模型，獲取所述全直徑巖心的修正滲透率。

2.根據權利要求1所述的修正方法，其特征在于，所述根據所述顯縫面孔率和假縫面孔率，獲取所述全直徑巖心的真孔隙度，包括：

根據所述全直徑巖心的壓汞資料，獲取所述全直徑巖心的顯孔隙度；

根據二維面孔率與三維孔隙度的轉換關系、所述顯縫面孔率和所述假縫面孔率，獲取所述全直徑巖心的顯縫體孔率和假縫體孔率；

根據所述全直徑巖心的顯孔隙度、所述顯縫體孔率和假縫體孔率，獲取所述全直徑巖心的真孔隙度。

3.根據權利要求2所述的修正方法，其特征在于，所述根據所述全直徑巖心的顯孔隙度、所述顯縫體孔率和假縫體孔率，獲取所述全直徑巖心的真孔隙度，包括：

根據所述全直徑巖心的顯孔隙度和顯縫體孔率的平均值，獲取所述全直徑巖心的平均孔隙度；

根據所述平均孔隙度和所述假縫體孔率的差值，獲取所述全直徑巖心的真孔隙度。

4.根據權利要求1所述的修正方法，其特征在于，所述根據所述顯縫面孔率和假縫面孔率，獲取所述全直徑巖心的真孔隙度，包括：

根據所述顯縫面孔率和假縫面孔率的差值，獲取真縫面孔率；

根據二維面孔率與三維孔隙度的轉換關系、所述真縫面孔率，獲取所述全直徑巖心的真孔隙度。

5.根據權利要求1-4任一項所述的修正方法，其特征在于，所述根據所述全直徑巖心的鑄體薄片資料，通過圖像分析方法，獲取所述全直徑巖心的顯縫面孔率和假縫面孔率，包括：

根據所述鑄體薄片中縫隙和假縫的特征與識別標志，獲取所述顯縫和所述假縫的面積；

根據所述顯縫的面積和所述鑄體薄片的面積的比值，獲取所述全直徑巖心的顯縫面孔率；

根據所述假縫的面積和所述鑄體薄片的面積的比值，獲取所述全直徑巖心的假縫面孔率。

6.根據權利要求1所述的修正方法，其特征在于，所述根據低壓膠體灌注的儲層全直徑巖心的壓汞資料，獲取全直徑巖心的顯孔隙度-滲透率函數模型，包括：

根據所述全直徑巖心的壓汞資料，獲取不同大小的孔隙對滲透率的貢獻值；

根據所述貢獻值，確定所述顯孔隙和微孔隙的臨界值；

根據所述臨界值和所述壓汞資料中的多個所述全直徑巖心的滲透率，獲取所述全直徑巖心的顯孔隙度-滲透率函數模型。

7.根據權利要求6所述的修正方法，其特征在于，根據所述貢獻值，確定所述顯孔隙和微孔隙的臨界值，包括：

將對滲透率的貢獻值≥95％，孔隙大小≥0.293um的孔隙值確定為所述顯孔隙和微孔隙的臨界值。

8.一種儲層物性的修正裝置，其特征在于，包括：

顯孔隙度-滲透率函數模型獲取模塊，用于根據低壓膠體灌注的儲層的全直徑巖心的壓汞資料，獲取全直徑巖心的顯孔隙度-滲透率函數模型；

面孔率獲取模塊，用于根據所述全直徑巖心的鑄體薄片資料，通過圖像分析方法，獲取所述全直徑巖心的顯縫面孔率和假縫面孔率，所述顯縫面孔率用于指示鑄體薄片圖像中所有縫隙的比率，所述假縫面孔率用于指示所述鑄體薄片圖像中假縫的比率；

真孔隙度獲取模塊，用于根據所述顯縫面孔率和假縫面孔率，獲取所述全直徑巖心的真孔隙度；

修正滲透率獲取模塊，用于根據所述真孔隙度和所述全直徑巖心的顯孔隙度-滲透率函數模型，獲取所述全直徑巖心的修正滲透率。