[發(fā)明專利]電能表現(xiàn)場校驗裝置及方法有效
申請?zhí)枺?/td> | 201810367570.2 | 申請日: | 2018-04-23 |
公開(公告)號: | CN108663650B | 公開(公告)日: | 2021-01-01 |
發(fā)明(設(shè)計)人: | 王煥寧;趙志華;黃艷;劉圓;檀恒宇;寇曉星 | 申請(專利權(quán))人: | 北京市計量檢測科學(xué)研究院 |
主分類號: | G01R35/04 | 分類號: | G01R35/04 |
代理公司: | 北京思創(chuàng)大成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11614 | 代理人: | 張清芳 |
地址: | 100029 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 電能表 現(xiàn)場 校驗 裝置 方法 | ||
1.一種電能表現(xiàn)場校驗裝置,其特征在于,該裝置包括:
采集模塊,所述采集模塊包括電能采集模塊和設(shè)置于所述電能采集模塊上的溫度采集模塊,所述電能采集模塊通過串聯(lián)接入被測電能表所在的電網(wǎng),采集電能數(shù)據(jù),所述溫度采集模塊用于采集所述電能采集模塊的溫度數(shù)據(jù);
溫度補償執(zhí)行模塊,所述溫度補償執(zhí)行模塊包括加熱器和熱循環(huán)裝置,所述加熱器設(shè)置在所述熱循環(huán)裝置的導(dǎo)熱介質(zhì)上,所述熱循環(huán)裝置利用所述導(dǎo)熱介質(zhì)將所述加熱器的熱量在所述電能表現(xiàn)場校驗裝置內(nèi)循環(huán);
控制模塊,所述控制模塊包括存儲器,所述存儲器內(nèi)存儲有誤差修正值,所述控制模塊通信連接于所述采集模塊和所述溫度補償執(zhí)行模塊,用于依據(jù)所述采集模塊輸出的溫度數(shù)據(jù)控制所述加熱器配合所述熱循環(huán)裝置同步工作,以將所述電能采集模塊的溫度維持在設(shè)定溫度,并從所述存儲器內(nèi)獲得誤差修正值,計算出所述被測電能表的電能誤差;
當(dāng)所述溫度采集模塊采集到的溫度小于所述設(shè)定溫度的下限值時,開啟所述加熱器,當(dāng)所述溫度采集模塊采集到的溫度大于所述設(shè)定溫度的上限值時,關(guān)閉所述加熱器;
所述熱循環(huán)裝置隨著所述加熱器同步啟動和關(guān)閉;所述溫度補償執(zhí)行模塊還包括散熱器,所述散熱器設(shè)置在所述熱循環(huán)裝置的導(dǎo)熱介質(zhì)上;
所述控制模塊依據(jù)所述采集模塊輸出的溫度數(shù)據(jù)控制所述加熱器配合所述熱循環(huán)裝置同步工作,或者控制所述散熱器配合所述熱循環(huán)裝置同步工作,以將所述電能采集模塊的溫度維持在設(shè)定溫度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表現(xiàn)場校驗裝置,其中,
當(dāng)所述溫度采集模塊采集到的溫度小于所述設(shè)定溫度的下限值時,開啟所述加熱器,當(dāng)所述溫度采集模塊采集到的溫度大于所述設(shè)定溫度的上限值時,關(guān)閉所述加熱器;
當(dāng)所述溫度采集模塊采集到的溫度大于所述設(shè)定溫度的上限值時,開啟所述散熱器,當(dāng)所述溫度采集模塊采集到的溫度小于所述設(shè)定溫度的下限值時,關(guān)閉所述散熱器;
所述熱循環(huán)裝置隨著所述加熱器或所述散熱器同步啟動和關(guān)閉。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表現(xiàn)場校驗裝置,其中,進一步包括屏蔽外殼,所述屏蔽外殼設(shè)置于所述電能表現(xiàn)場校驗裝置的外側(cè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電能表現(xiàn)場校驗裝置,其中,所述屏蔽外殼由保溫材料制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表現(xiàn)場校驗裝置,其中,所述溫度采集模塊包括至少一個溫度傳感器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電能表現(xiàn)場校驗裝置,其中,所述控制模塊還包括顯示屏和按鍵電路,通過所述按鍵電路設(shè)置所述設(shè)定溫度,所述顯示屏用于顯示所述設(shè)定溫度和所述被測電能表的電能誤差。
7.一種電能表現(xiàn)場校驗方法,利用權(quán)利要求1-6任一所述的電能表現(xiàn)場校驗裝置,該方法包括如下步驟:
1)通過所述控制模塊的按鍵電路設(shè)置所述設(shè)定溫度,所述控制模塊依據(jù)所述設(shè)定溫度控制所述加熱器配合所述熱循環(huán)裝置同步工作,將所述電能采集模塊的溫度維持在設(shè)定溫度;
2)將所述電能采集模塊通過串聯(lián)接入被測電能表所在的電網(wǎng),采集電能數(shù)據(jù),并傳送至所述控制模塊;
3)所述控制模塊依據(jù)所述設(shè)定溫度和負載點從所述存儲器內(nèi)獲得誤差修正值,結(jié)合所述電能采集模塊獲得的電能數(shù)據(jù)以及所述被測電能表的電能數(shù)據(jù),計算出所述被測電能表的電能誤差。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京市計量檢測科學(xué)研究院,未經(jīng)北京市計量檢測科學(xué)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810367570.2/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 一種網(wǎng)絡(luò)驗證信息的方法和裝置
- 數(shù)據(jù)安全校驗方法、裝置及校驗設(shè)備
- XBRL實例文檔校驗方法以及系統(tǒng)
- 一次性可編程存儲裝置以及對其進行數(shù)據(jù)校驗的方法
- 信息校驗方法及裝置
- 一種基于Java系統(tǒng)的數(shù)據(jù)校驗方法及系統(tǒng)
- 用于獨立冗余磁盤陣列的數(shù)據(jù)管理方法、設(shè)備和計算機程序產(chǎn)品
- 數(shù)據(jù)校驗方法及應(yīng)用系統(tǒng)
- 數(shù)據(jù)校驗方法、裝置、電子設(shè)備
- 一種業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)校驗方法及裝置