[發明專利]一種測試機的智能控制方法

在審

• 申請號: 201810365859.0
• 申請日: 2018-04-23
• 公開（公告）號: CN108940902A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 馬峻;徐企娟
• 申請（專利權）人: 蘇州諾登德智能科技有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 許方

本發明公開了一種測試機的智能控制方法，具體步驟為：IC芯片測試分選管理系統根據生產需求，從待測芯片庫中將待測試的IC芯片調出；傳送機構將待測試的IC芯片傳送到測試分選機臺的送料機構上，同時掃描待測試的IC芯片料盒上的條形碼，并將掃描結果傳輸至IC芯片測試分選管理系統；IC芯片測試分選管理系統根據接收到的傳送機構掃描信息，調出相應的測試分選程序，并將測試分選程序傳輸至測試分選機臺的PLC；生產完成后，傳送機構將分選后的IC芯片分別傳送至良品庫和不良品庫。

技術領域

本發明涉及一種測試機的智能控制方法。

背景技術

當網絡、電子通訊及各種電子消費品占據人們生活的各個角落時，奠定這一切基礎的半導體產業毋庸置疑地成為國家科技發展中的重中之重。這些微電子行業大量使用的IC芯片具有體積小、攜帶方便、價格便宜等特點，廣泛應用于各類工業電子設備、各種家用電器、儀表等。

IC芯片制造完成后，需要對其進行檢測、分選。隨著電子產品的集成度越來越高，對IC芯片的需求量也越來越大。IC芯片的質量將影響整個電子產品的質量，所以IC芯片的測試分選是十分重要的工序。

目前，IC芯片測試分選雖然大部分采用了先進的基于PLC的芯片測試分選設計，但是在功能比較單一，在實際生成過程中，仍舊需要測試工作人員在每個型號甚至每個批次的IC芯片測試分選前進行程序預設置以及預調試工作。這種生成工作方式不僅需要消耗人力，還容易造成人為的差錯。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種替代人工的測試機的智能控制方法。

本發明為解決上述技術問題采用以下技術方案：

本發明提供一種測試機的智能控制方法，包括以下具體步驟：

步驟1，IC芯片測試分選管理系統根據生產需求，從待測芯片庫中將待測試的IC芯片調出；

步驟2，傳送機構將待測試的IC芯片傳送到測試分選機臺的送料機構上，同時掃描待測試的IC芯片料盒上的條形碼，并將掃描結果傳輸至IC芯片測試分選管理系統；

步驟3，IC芯片測試分選管理系統根據接收到的傳送機構掃描信息，調出相應的測試分選程序，并將測試分選程序傳輸至測試分選機臺的PLC；

步驟4，生產完成后，傳送機構將分選后的IC芯片分別傳送至良品庫和不良品庫。

作為本發明的進一步優化方案，所述傳送機構包括料盒運輸車以及設置在料盒運輸車上的用于搬運IC芯片料盒的機械手，機械手上設置有條形碼掃描儀。

作為本發明的進一步優化方案，料盒運輸車上設置有對其上放置的IC芯片料盒進行固定的料盒固定裝置。

作為本發明的進一步優化方案，料盒運輸車上設置有避障裝置。

作為本發明的進一步優化方案，避障裝置為激光避障模塊。

作為本發明的進一步優化方案，料盒運輸車上設置有多個放置IC芯片料盒的料盒運送位。

本發明采用以上技術方案與現有技術相比，具有以下技術效果：本發明通過IC芯片測試分選管理系統對測試分選程序的調配，形成對測試分選程序的準確選擇，提高了測試分選效率。本發明采用了傳送機構進行待測IC芯片以及分選后良品和不良品的傳送，提高了生產安全系數；降低了勞動者的勞動強度。

具體實施方式

下面詳細描述本發明的實施方式，且描述的實施方式是示例性的，僅用于解釋本發明，而不能解釋為對本發明的限制。